[发明专利]图像暗场漏电流的校正方法、装置、电子终端、存储介质

权利要求书

1.一种图像暗场漏电流的校正方法，其特征在于，包括：

获取暗场漏电流随时间变化的关系数据；包括：获取多张无曝光条件下的暗场图像；以所述多张无曝光条件下的暗场图像为模板图像，计算暗场漏电流随时间变化的关系数据；

根据待校正亮场图像的曝光等待窗口时间数据以及所述暗场漏电流随时间变化的关系数据，计算所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据；所述待校正亮场图像的曝光等待窗口时间在拍摄所述亮场图像时读取；

基于所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据，对所述待校正亮场图像进行图像校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以所述多张无曝光条件下的暗场图像为模板图像，计算暗场漏电流随时间变化的关系数据，包括：

获取无曝光条件下的等时间间隔的多个曝光等待窗口时间节点所对应的暗场图像；

以初始时间节点所对应的暗场图像为基底图像，分别计算其它暗场图像的漏电流与所述基底图像的漏电流之间的差值，以分别作为各对应时间节点下的漏电流噪声值；

根据各对应时间节点下的漏电流噪声值，并基于高斯消元法，计算所述暗场漏电流随时间变化的关系数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以所述多张无曝光条件下的暗场图像为模板图像，计算暗场漏电流随时间变化的关系数据，包括：

构建包括四个未知系数的一元三次函数关系；

基于以0s作为初始时间节点的五个无曝光条件下的不同曝光等待窗口时间的暗场图像，计算得到四个对应的漏电流噪声值；

以四个漏电流噪声值为所述一元三次函数关系的已知解来计算四个未知系数，据以形成暗场漏电流随时间变化的函数关系。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对亮场图像进行暗场漏电流的校正后，再对校正后的图像进行偏置校正、增益校正及坏点校正中的任意一种或多种的组合。

5.一种图像暗场漏电流的校正装置，其特征在于，包括：

数据获取模块，用于获取暗场漏电流随时间变化的关系数据；包括：获取多张无曝光条件下的暗场图像；以所述多张无曝光条件下的暗场图像为模板图像，计算暗场漏电流随时间变化的关系数据；

图像处理模块，用于根据待校正亮场图像的曝光等待窗口时间数据以及所述暗场漏电流随时间变化的关系数据，计算所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据，并用于基于所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据，对所述待校正亮场图像进行图像校正；所述待校正亮场图像的曝光等待窗口时间在拍摄所述亮场图像时读取。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述图像处理模块还用于：

对亮场图像进行暗场漏电流的校正后，再对校正后的图像进行偏置校正、增益校正及坏点校正中的任意一种或多种的组合。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述图像暗场漏电流的校正方法。

8.一种电子终端，其特征在于，包括：处理器及存储器；

所述存储器用于存储计算机程序；

所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述终端执行如权利要求1至4中任一项所述图像暗场漏电流的校正方法。