[发明专利]改善电芯自放电的方法

说明书

本发明涉及电芯自放电的技术领域，公开了改善电芯自放电的方法，包括电芯，电芯包括隔膜，具体步骤如下：(1)、电芯预充电，静置；(2)、将电芯进行大电流放电；(3)、电芯放电过程中，隔膜发热，当隔膜具有缺陷点时，且缺陷点具有膜孔，缺陷点达到125℃～135℃时，膜孔闭孔，电芯的自放电减小。将带电的电芯进行大电流放电，当电芯为不合格电芯时，其隔膜上具有缺陷点，由于缺陷点的内阻小，通过的电流密度会更高，使缺陷点处会产生更高的热量，隔膜受热，当缺陷点的温度达到125℃～135℃时，缺陷点上的膜孔会呈闭孔状态，从而使电芯的自放电减小；这样，通过这种方法，降低电芯的自放电行为，降低能量的浪费，同时，提高电芯的合格率。

技术领域

本发明专利涉及电芯自放电的技术领域，具体而言，涉及改善电芯自放电的方法。

背景技术

电芯，指单个含有正、负极的电化学电芯，电芯具有隔膜，隔膜阻绝电子的通过，让正负极处于稳态。

但是，当阻挡电子移动的隔膜出现缺陷时，电子会从缺陷点处穿过，导致电芯发生放电行为。

电芯自放电既是对能量的一种浪费，也会带来一些安全风险；因此，电芯在出货时，都要进行自放电的筛选，以甄别电芯的好坏。

现有技术中，缺乏有效改善电芯自放电的方法。

发明内容

本发明的目的在于提供改善电芯自放电的方法，旨在解决现有技术中，电芯易发生自放电的问题。

本发明是这样实现的，改善电芯自放电的方法，包括电芯，所述电芯包括隔膜，具体步骤如下：

(1)、所述电芯预充电，静置；

(2)、将所述电芯进行大电流放电；

(3)、所述电芯放电过程中，所述隔膜发热，当所述隔膜具有缺陷点时，且所述缺陷点具有膜孔，所述缺陷点达到125℃～135℃时，所述膜孔闭孔，所述电芯的自放电减小。

进一步的，所述隔膜具有完善点，所述电芯放电过程中，所述缺陷点达到125℃～135℃时，所述完善点的温度范围为50℃～70℃。

进一步的，所述隔膜为聚乙烯薄膜。

进一步的，所述电芯进行大电流放电的电流范围为15A～25A，放电时间范围为3-8min。

进一步的，所述电芯进行大电流放电的电流为20A，放电时间为5min。

进一步的，选取多个具有所述缺陷点的所述电芯，记录未处理的漏电流数值，再依次进行步骤(2)和步骤(3)，记录处理后的漏电流数值，且两次记录的漏电流数值进行对比。

与现有技术相比，本发明提供的改善电芯自放电的方法，进行电芯自放电改善时，将带电的电芯进行大电流放电，当电芯为不合格电芯时，其隔膜上具有缺陷点，由于缺陷点的内阻小，通过的电流密度会更高，使缺陷点处会产生更高的热量，隔膜受热，当缺陷点的温度达到125℃～135℃时，缺陷点上的膜孔会呈闭孔状态，从而使电芯的自放电减小；这样，通过这种方法，降低电芯的自放电行为，降低能量的浪费，同时，提高电芯的合格率。

附图说明

图1是本发明提供的改善电芯自放电的方法的操作流程示意图；

图2是本发明提供的改善电芯自放电的方法的隔膜的立体示意图；

图3是本发明提供的放电箱与加热箱的配合立体示意图；

图4是本发明提供的加热箱的俯视示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。