[发明专利]二维码印刷缺陷检测方法有效
申请号: | 201911224979.X | 申请日: | 2019-12-04 |
公开(公告)号: | CN110969612B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 陈从平;张润泽;陈继扬;张涛;王钦;姚威 | 申请(专利权)人: | 常州大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/11;G06T7/136 |
代理公司: | 常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙) 32258 | 代理人: | 蒋华 |
地址: | 213164 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二维码 印刷 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种二维码印刷缺陷检测方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:获取含有二维码的图像I,并对获取的图像进行预处理,得到二值化图像Ic;
步骤2:二维码定位符缺陷检测及二维码外轮廓缺损、变形检测,
步骤2.1:搜索并统计二值化图像Ic中二维码定位符的个数N,若定位符个数N不等于3则认为有定位符缺失或存在定位符残缺;若定位符个数N等于3,则进入步骤2.2;
步骤2.2:计算以3个定位符形心为顶点的三角形两条短边像素长度a、b及两边所夹角度θ,若两个条件m1≤a/b≤n1和m2≤θ≤n2中任意一个不能满足,其中,m1和n1分别为a/b的最小值和最大值,m2和n2分别为θ的最小值和最大值,则认为定位符有变形、或定位符内部有污染、或二维码整体有变形,若能同时满足,则认为定位符无缺陷,转入步骤3;
步骤3:搜寻包容步骤2.2中三个定位符的最小外接矩形W,并对W进行水平校正后归一化为M1хM1像素大小,然后用M2хM2的结构元素对W所围区域中的白色像素进行腐蚀操作,其中M2为奇数且小于M1,然后计算W中剩余白色像素数占W总像素数之比Rw,若Rw≥λ,λ为像素比的阈值,则认为二维码在非定位符区域存在外轮廓缺损,反之转入步骤4;
步骤4:分别计算腐蚀操作前的W每行像素中黑色像素个数与W的宽度之比R1、W的每列像素中的黑色像素个数与W的高度之比R2,若Ri≤α,i=1,2,则认为二维码存在白道,若Ri≥β,i=1,2,则认为二维码存在黑道,其中,α表示W中某行黑色像素个数与W宽度之比或某列黑色像素个数与W高度之比的阈值最大值,β表示W中某行黑色像素个数与W宽度之比或某列黑色像素个数与W高度之比的阈值最小值;
步骤5:若步骤2至步骤4检测均无相应缺陷,则认为该二维码无印刷缺陷;若其中某步检测出有该步骤对应的缺陷,则认为该二维码有缺陷,终止后续检测。
2.如权利要求1所述的二维码印刷缺陷检测方法,其特征在于:步骤1具体包括以下步骤:
步骤1.1:用鼠标拖拽设置ROI,使待检测二维码图像处于ROI内,拍摄获取含二维码的图像,后续所有对图像进行处理的步骤均指对所获取的ROI内图像进行处理;
步骤1.2:对图像依次进行灰度化、高斯滤波、Gama校正以及采用最大类间方差法求取图像二值化阈值,并将图像二值化。
3.如权利要求1所述的二维码印刷缺陷检测方法,其特征在于:步骤2.1具体还包括以下步骤:
1)检测出二维码中含有三层嵌套的封闭子轮廓的区域视为可能的定位符A1,A2,A3…AN;
2)两两交叉并分别对比A1,A2,A3…AN的最外层轮廓所围区域面积比、最外层轮廓周长比,当且仅当两类比值均处于[m1,n1]时,视对应的具有三层嵌套封闭子轮廓的区域为真实的定位符。
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