[发明专利]一种激光图像X射线相对密度测试装置

说明书

本发明提供一种激光图像X射线相对密度测试装置，包括水平支架、反射镜、激光器、激光高度传感器、X射线管和X射线探测器；水平支架的一端上方安装有X射线管，另一端下方倾斜固定有激光高度传感器，位于X射线管的正下方安装有反射镜，位于反射镜的水平入射端在水平支架下方固定有激光器，位于X射线管的正下方设置有X射线探测器；其中激光器发出的激光使用反射镜反射后与X射线管发出的X射线重合，并同时垂直照射到X射线探测器的探测窗口上，激光高度传感器与X射线探测器通过信号线连接同步采集信息。本发明将激光光路和X射线光路空间合束，扫描仪在同一个位置同时产生高度数据和透射出能量数据，达到同一位置同时检测的目的。

技术领域

本发明主要涉及扫描装置领域，尤其涉及一种激光图像X射线相对密度测试装置。

背景技术

在对样块做非接触式相对密度检测的时候，常用X射线透射物块，得出透射能量数据。用激光扫描得出高度数据，然后根据能量数据和高度数据利用朗伯-比尔(Lambert-Beer)定律计算样块的相对密度。

由于常见样块是非规则形状，并且分别测量透射能量数据和高度数据，很难保证两次测量的是物块的同一位置，使后续分析带来了误差。

已公开中国发明专利，申请号CN201910667122.9，专利名称：一种高精度激光射线同步测量一体机，申请日：2019-07-23，本发明涉及一种高精度激光射线同步测量一体机，包括上部铝盒和下部铝盒；上部铝盒内部设置X射线发射器；下部铝盒内部设置X射线接收器；上部铝盒外部设置上部激光测试头，上部激光测试头包括上部激光源和第一光电探测器；下部铝盒外部设置下部激光测试头，下部激光测试头包括下部激光源和第二光电探测器；测厚支架整体焊接后加工；测厚支架的外侧设置有控制系统。测厚支架内设置上直线电机和下直线电机；直线电机安装面采用侧铣加工，上直线电机和下直线电机同步驱动。本发明采用一体式非接触式同步测量膜面密度和厚度，测头高速精确反复定位,测量结果更加精准。

发明内容

针对现有技术的上述缺陷，本发明提供一种激光图像X射线相对密度测试装置，包括水平支架1、反射镜6、激光器3、激光高度传感器2、X射线管4和X射线探测器8；

所述水平支架1的一端上方安装有X射线管4，另一端下方倾斜固定有激光高度传感器2，位于所述X射线管4的正下方安装有反射镜6，位于反射镜6的水平入射端在水平支架1下方固定有激光器3，位于所述X射线管4的正下方设置有X射线探测器8；

其中所述激光器3发出的激光使用反射镜6反射后与X射线管4发出的X射线重合，并同时垂直照射到X射线探测器8的探测窗口7上，激光高度传感器2与X射线探测器8通过信号线连接同步采集信息。

优选的，X射线管4外照射有X射线管防护盒5，所述反射镜6外罩设有反射镜保护盒9，所述反射镜保护盒9位于激光器3的发射端设置有S光孔10。

优选的，反射镜保护盒9从上至下逐渐间距变大，所述反射镜6采用单侧镀铝制造。

优选的，水平支架1和X射线探测器8之间安装有一对垂直于水平支架1的竖直支架11，一对所述竖直支架11之间连接有水平连接板12，所述水平连接板12内竖直有安装X射线管4的安装孔。

优选的，水平支架1、水平连接板12和竖直支架11采用铝合金加工制作。

优选的，X射线管4、激光高度传感器2、X射线管4、反射镜6均通过螺栓连接在水平支架1上。

优选的，激光器3发出的激光作为X射线管4发出的X射线照射位置的标识。

本发明的有益效果：将激光光路和X射线光路进行空间合束，使得扫描仪在同一个位置同时产生高度数据和透射出能量数据，达到同一位置同时检测的目的，且安装方便，可靠性高。

附图说明

图1为本发明的立体结构图；