[发明专利]插座探针良率的检测电路及方法在审
申请号: | 201911232055.4 | 申请日: | 2019-12-05 |
公开(公告)号: | CN111007319A | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 李晓侠;钟艳 | 申请(专利权)人: | 上海华力集成电路制造有限公司 |
主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 顾浩 |
地址: | 201314*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 插座 探针 检测 电路 方法 | ||
1.一种插座探针良率的检测电路,其特征在于,包括:
产品插座,所述产品插座包含插座探针;
金属插座盖,所述金属插座盖接地,所述金属插座盖电连接所述插座探针;
电流源,所述电流源用以为所述插座探针供电源;
电压表,所述电压表用以测量所述插座探针的电压。
2.根据权利要求1所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,还包括:
测试机,所述测试机提供所述电流源和所述电压表;
测试头和负载板,所述测试头连接所述测试机,所述负载板连接所述测试头;
适配插座,所述适配插座连接所述负载板,所述产品插座连接所述适配插座。
3.根据权利要求2所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述测试机包括测试机电阻,所述测试头包含测试头电阻,所述负载板包含负载板电阻,所述适配插座包含适配插座电阻,所述产品插座的插座探针包含接触电阻,所述金属插座盖包含金属插座盖电阻;
所述电流源连接所述测试机电阻,所述测试机电阻连接所述测试头电阻,所述测试头电阻连接所述负载板电阻,所述负载板电阻连接所述适配插座电阻,所述接触电阻连接所述适配插座电阻,所述金属插座盖电阻连接所述接触电阻,所述金属插座盖电阻接地;
所述电压表一端接地,另一端连接所述测试机电阻。
4.根据权利要求1-3之一所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述电流源为电流可调节电流源,所述电流源包含第一电流和第二电流,
在所述电流源为第一电流时,所述电压表测得电压值为第一电压值,
在所述电流源为第二电流时,所述电压表测得电压值为第二电压值。
5.根据权利要求4所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述第一电流和第二电流的值为0~10mA,精度为0.001mA。
6.根据权利要求4所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述电压表的测量精度为0.001mV。
7.根据权利要求1所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述金属插座盖与所述产品插座插合连接。
8.根据权利要求2所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述适配插座用来配合所述产品插座和所述负载板。
9.根据权利要求1所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述产品插座的数量至少为二。
10.根据权利要求9所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,还包括:
测试机,所述测试机数量为一,所述测试机提供所述电流源和所述电压表;
检测电路支路,所述检测电路支路数量等于所述产品插座数量;
各所述检测电路支路并联连接至所述测试机上。
11.一种插座探针良率的检测方法,其特征在于,包括:
步骤一,测量产品插座的插座探针的接触电阻;
步骤二,根据阻值阈值判断是否需要更换产品插座。
12.根据权利要求11所述的插座探针良率的检测方法,其特征在于,采用测试机测量插座探针的接触电阻;
所述产品插座连接金属插座盖,金属插座盖连接插座探针,金属插座盖接地;
所述测试机提供电流源,并且包含测量电压的装置;
电流源为插座探针提供电源;
测量电压的装置一端接地,测量插座探针在电流源的电流值下的电压值。
13.根据权利要求12所述的插座探针良率的检测方法,其特征在于,测试机具有测试头,测试头连接有负载板,插座探针与负载板电连接。
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