[发明专利]插座探针良率的检测电路及方法在审

专利信息
申请号: 201911232055.4 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN111007319A 公开(公告)日: 2020-04-14
发明(设计)人: 李晓侠;钟艳 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 顾浩
地址: 201314*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 插座 探针 检测 电路 方法
【权利要求书】:

1.一种插座探针良率的检测电路,其特征在于,包括:

产品插座,所述产品插座包含插座探针;

金属插座盖,所述金属插座盖接地,所述金属插座盖电连接所述插座探针;

电流源,所述电流源用以为所述插座探针供电源;

电压表,所述电压表用以测量所述插座探针的电压。

2.根据权利要求1所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,还包括:

测试机,所述测试机提供所述电流源和所述电压表;

测试头和负载板,所述测试头连接所述测试机,所述负载板连接所述测试头;

适配插座,所述适配插座连接所述负载板,所述产品插座连接所述适配插座。

3.根据权利要求2所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述测试机包括测试机电阻,所述测试头包含测试头电阻,所述负载板包含负载板电阻,所述适配插座包含适配插座电阻,所述产品插座的插座探针包含接触电阻,所述金属插座盖包含金属插座盖电阻;

所述电流源连接所述测试机电阻,所述测试机电阻连接所述测试头电阻,所述测试头电阻连接所述负载板电阻,所述负载板电阻连接所述适配插座电阻,所述接触电阻连接所述适配插座电阻,所述金属插座盖电阻连接所述接触电阻,所述金属插座盖电阻接地;

所述电压表一端接地,另一端连接所述测试机电阻。

4.根据权利要求1-3之一所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述电流源为电流可调节电流源,所述电流源包含第一电流和第二电流,

在所述电流源为第一电流时,所述电压表测得电压值为第一电压值,

在所述电流源为第二电流时,所述电压表测得电压值为第二电压值。

5.根据权利要求4所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述第一电流和第二电流的值为0~10mA,精度为0.001mA。

6.根据权利要求4所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述电压表的测量精度为0.001mV。

7.根据权利要求1所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述金属插座盖与所述产品插座插合连接。

8.根据权利要求2所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述适配插座用来配合所述产品插座和所述负载板。

9.根据权利要求1所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,所述产品插座的数量至少为二。

10.根据权利要求9所述的插座探针良率的检测电路,其特征在于,还包括:

测试机,所述测试机数量为一,所述测试机提供所述电流源和所述电压表;

检测电路支路,所述检测电路支路数量等于所述产品插座数量;

各所述检测电路支路并联连接至所述测试机上。

11.一种插座探针良率的检测方法,其特征在于,包括:

步骤一,测量产品插座的插座探针的接触电阻;

步骤二,根据阻值阈值判断是否需要更换产品插座。

12.根据权利要求11所述的插座探针良率的检测方法,其特征在于,采用测试机测量插座探针的接触电阻;

所述产品插座连接金属插座盖,金属插座盖连接插座探针,金属插座盖接地;

所述测试机提供电流源,并且包含测量电压的装置;

电流源为插座探针提供电源;

测量电压的装置一端接地,测量插座探针在电流源的电流值下的电压值。

13.根据权利要求12所述的插座探针良率的检测方法,其特征在于,测试机具有测试头,测试头连接有负载板,插座探针与负载板电连接。

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