[发明专利]一种绝缘子自爆检测方法有效
申请号: | 201911232123.7 | 申请日: | 2019-12-05 |
公开(公告)号: | CN111220619B | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 常心悦;李庆武;周亚琴;雷萍;马云鹏;张家乐 | 申请(专利权)人: | 河海大学常州校区 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G06T7/00;G06T7/11 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 213022 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 绝缘子 自爆 检测 方法 | ||
1.一种绝缘子自爆检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
采集绝缘子串图像并对所述图像进行预处理;
图像经过预处理后,提取绝缘子的主轴像素和伞裙像素,以提取到的主轴像素形成主轴L,以主轴L为界,将位于主轴L同一侧的伞裙像素设为一组;
取其中一组伞裙像素,计算相邻两个伞裙像素点之间的距离差值Disi;
依据所述距离差值Disi生成柱状图,判断绝缘子串是否有自爆缺陷;
所述提取绝缘子的主轴像素和伞裙像素包括以下步骤:
预处理后,选取绝缘子骨架区域内的像素点,判断像素点的八邻域内与该像素点灰度值相同的像素点的数量,若只有一个,则该像素点为绝缘子的主轴像素或伞裙像素,使用霍夫直线检测方法提取出绝缘子的主轴;
计算相邻两个像素点之间的距离差值包括以下步骤:
使用冒泡排序算法将伞裙像素点按照横坐标依次排序;
根据排序后的伞裙像素点,计算相邻两个伞裙像素点之间的距离差值;
所述判断绝缘子串是否有自爆缺陷包括以下步骤:
计算距离差值Disi的平均值
根据距离差值Disi和平均值的大小关系,判断绝缘子串是否有自爆缺陷:
若则绝缘子存在自爆缺陷。
2.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:获取绝缘子串图像并对所述图像进行预处理包括以下步骤:
通过无人机采集绝缘子串图像;
将采集到的图像通过YOLOv3网络进行训练测试,标出绝缘子串检测框;
通过绝缘子串检测框与Grabcut分割算法对采集到的图像进行分割。
3.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述方法还包括对有自爆缺陷的绝缘子进行定位。
4.根据权利要求3所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述对有自爆缺陷的绝缘子进行定位包括以下步骤:
记录有自爆缺陷的距离差值,提取所述距离差值对应的两个相邻像素点坐标;
根据所述两个相邻像素点坐标计算缺陷检测框信息,由所述缺陷检测框信息对有自爆缺陷的绝缘子进行定位。
5.根据权利要求4所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述缺陷检测框信息包括缺陷检测框的宽度w、高度h、延伸方向以及缺陷检测框的起点坐标。
6.根据权利要求5所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述缺陷检测框的延伸方向和起点坐标由以下步骤确定:
若主轴L的斜率k>0,缺陷检测框由起点坐标开始向x坐标轴正方向延伸,缺陷检测框的起点坐标可以表示为:
若主轴L的斜率k<0,缺陷检测框由起点坐标开始向y坐标轴正方向延伸,缺陷检测框起点位于(xt,yt)左下角,检测框的起点坐标可以表示为:
其中,(x,y)为缺陷检测框的起始坐标,(x't,y't)与(xt,yt)关于主轴L对称,distt为像素点(xt,yt)距离主轴L的距离,Dist为像素点(xt,yt)与(xt+1,yt+1)的距离。
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