[发明专利]一种绝缘子自爆检测方法有效

专利信息
申请号: 201911232123.7 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN111220619B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 常心悦;李庆武;周亚琴;雷萍;马云鹏;张家乐 申请(专利权)人: 河海大学常州校区
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06T7/00;G06T7/11
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 213022 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 绝缘子 自爆 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种绝缘子自爆检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

采集绝缘子串图像并对所述图像进行预处理;

图像经过预处理后,提取绝缘子的主轴像素和伞裙像素,以提取到的主轴像素形成主轴L,以主轴L为界,将位于主轴L同一侧的伞裙像素设为一组;

取其中一组伞裙像素,计算相邻两个伞裙像素点之间的距离差值Disi

依据所述距离差值Disi生成柱状图,判断绝缘子串是否有自爆缺陷;

所述提取绝缘子的主轴像素和伞裙像素包括以下步骤:

预处理后,选取绝缘子骨架区域内的像素点,判断像素点的八邻域内与该像素点灰度值相同的像素点的数量,若只有一个,则该像素点为绝缘子的主轴像素或伞裙像素,使用霍夫直线检测方法提取出绝缘子的主轴;

计算相邻两个像素点之间的距离差值包括以下步骤:

使用冒泡排序算法将伞裙像素点按照横坐标依次排序;

根据排序后的伞裙像素点,计算相邻两个伞裙像素点之间的距离差值;

所述判断绝缘子串是否有自爆缺陷包括以下步骤:

计算距离差值Disi的平均值

根据距离差值Disi和平均值的大小关系,判断绝缘子串是否有自爆缺陷:

若则绝缘子存在自爆缺陷。

2.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:获取绝缘子串图像并对所述图像进行预处理包括以下步骤:

通过无人机采集绝缘子串图像;

将采集到的图像通过YOLOv3网络进行训练测试,标出绝缘子串检测框;

通过绝缘子串检测框与Grabcut分割算法对采集到的图像进行分割。

3.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述方法还包括对有自爆缺陷的绝缘子进行定位。

4.根据权利要求3所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述对有自爆缺陷的绝缘子进行定位包括以下步骤:

记录有自爆缺陷的距离差值,提取所述距离差值对应的两个相邻像素点坐标;

根据所述两个相邻像素点坐标计算缺陷检测框信息,由所述缺陷检测框信息对有自爆缺陷的绝缘子进行定位。

5.根据权利要求4所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述缺陷检测框信息包括缺陷检测框的宽度w、高度h、延伸方向以及缺陷检测框的起点坐标。

6.根据权利要求5所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述缺陷检测框的延伸方向和起点坐标由以下步骤确定:

若主轴L的斜率k>0,缺陷检测框由起点坐标开始向x坐标轴正方向延伸,缺陷检测框的起点坐标可以表示为:

若主轴L的斜率k<0,缺陷检测框由起点坐标开始向y坐标轴正方向延伸,缺陷检测框起点位于(xt,yt)左下角,检测框的起点坐标可以表示为:

其中,(x,y)为缺陷检测框的起始坐标,(x't,y't)与(xt,yt)关于主轴L对称,distt为像素点(xt,yt)距离主轴L的距离,Dist为像素点(xt,yt)与(xt+1,yt+1)的距离。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河海大学常州校区,未经河海大学常州校区许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911232123.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top