[发明专利]一种基于X射线成像的GIS设备缺陷检测方法

权利要求书

1.一种基于X射线成像的GIS设备缺陷检测方法，其特征在于，包括：

S1、获取GIS设备图像；

S2、对所述图像进行图像灰度化处理，获得灰度图像；

S3、对所述灰度图像进行图像二值化处理，获得二值化图像；

S4、对所述二值化图像进行去噪处理，获得去噪图像；

S5、对所述去噪图像进行信息增强处理，获得增强图像；

S6、对所述增强图像进行图像分割，提取出目标图像；

S7、对所述目标图像进行特征提取，获得特征向量；

S8、采用多类分类器，将所述特征向量作为输入，对所述特征向量进行识别。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在步骤S3中，对图像进行二值化处理是将图像的像素点置为0或者255。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在步骤S4中，采用中值滤波对图像进行去噪处理。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在步骤S5中，采用Gama变换法修正图像中的灰度值。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在步骤S6中，采用FCM分割算法对GIS设备图像分割成不同区域。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在步骤S7中，从所述目标图像中凸起形状特征和局部纹理特征，其中，所述形状特征包括周长、面积、凹陷数、凸包数，所述局部纹理特征包括hu不变矩和采用LBP算子提取的局部纹理特征向量。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，对LBP特征向量进行提取的步骤包括：

(1)首先将检测窗口划分为16×16的小区域；

(2)对于每个小区域中的一个像素，将相邻的8个像素的灰度值与其进行比较，若周围像素值大于中心像素值，则该像素点的位置被标记为1，否则为0，如此，3*3邻域内的8个点经比较可产生8位二进制数，即得到该窗口中心像素点的LBP值；

(3)然后计算每个小区域的直方图，即每个数字出现的频率；然后对该直方图进行归一化处理；

(4)最后将得到的每个小区域的统计直方图进行连接成为一个特征向量，也即得到整幅图的LBP纹理特征向量。

8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，在步骤S8中，调用CvSVM库中的SVM分类器作为所述多类分类器，并进行下述训练：

(1)生成SVM描述文件；

(2)将描述文件读入容器中；

(3)读入样本数量，生成样本矩阵和类型矩阵；

(4)读入样本图像；

(5)运用步骤S1至S7对其进行处理并提取特征，将提取特征向量作为SVM模型输入；

(6)配置参数，进行SVM训练；

(7)进行分类识别。