[发明专利]眼科装置

说明书

本发明涉及一种眼科装置，其具有波长扫描型的光源、参照光学系统、校正光学系统、接收对由校正光学系统引导的校正光和由参照光学系统引导的参照光进行合波的校正用干涉光的受光元件、对当接收到校正用干涉光时被从受光元件输出的校正用干涉信号进行采样的信号处理部和运算部。信号处理部在光的频率变化1个周期时的全频带中的第1频带对校正用干涉信号进行采样，且在与第1频带不同的第2频带对校正用干涉信号进行采样。运算部计算在第1频带中被采样且经傅里叶变换后的校正用干涉信号的第1波形、与在第2频带中被采样且经傅里叶变换后的校正用干涉信号的第2波形之间的偏移量。据此，能抑制在不同频带对干涉信号进行采样时发生的干涉信号失真。

技术领域

本说明书所公开的技术涉及一种眼科装置。详细而言，涉及一种使用光干涉来测定受检眼的眼科装置。

背景技术

开发出拍摄受检眼内部的层析图像(tomographic image)的眼科装置。例如，专利文献1所记载的眼科装置具有：测定光学系统，其向受检眼的内部照射来自光源的光且引导其反射光；和参照光学系统，其向参照面照射来自光源的光且引导其反射光。在测定时，根据对由测定光学系统引导的反射光(测定光)和由参照光学系统引导的反射光(参照光)进行合波(multiplexes)而形成的干涉光来生成受检眼的层析图像。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本发明专利公开公报特开2016-41218号

发明内容

【发明要解决的技术问题】

当使用专利文献1那样的眼科装置来测定受检眼时，根据干涉光来获取表示沿测定光轴的深度方向的位置与信号强度的关系的层析信息(所谓的A扫描信息)。例如，在获取受检眼的层析图像的情况下，使用测定光进行扫描来获取多个A扫描信息，并使用这些多个A扫描信息生成受检眼的层析图像。或者，为了提高测定精度，在同一位置获取多次层析信息的情况下，也一边向同一位置照射测定光一边获取多个A扫描信息。为了获取多个A扫描信息，需要多次对干涉信号进行采样。另一方面，用于这样的眼科装置的波长扫描型的光源输出的光的波长被周期性进行扫描，与此对应，光的频率也周期性变化。一般而言，为了缩短测定时间，期望高速获取A扫描信息。例如，通过加快从光源输出的光的波长的扫描速度，能够缩短受检眼的测定时间，但产生在技术上难以实现和成本增高的问题。因此，正在研究每当从光源输出的光的频率变化1个周期时，在不同的频带获取多个A扫描信息。然而，当在不同的频带采样(获取)干涉信号时，波长(频带)按所采样的每一干涉信号而不同，因此有时按每一干涉信号而发生位置偏移和信号强度的偏移。例如，当使用这样的干涉信号来生成层析图像时发生图像失真(图像畸变)或亮度不均。本说明书公开了抑制当在不同的频带对干涉信号进行采样时发生的干涉信号失真的技术。

【用于解决技术问题的方式】

本说明书所公开的眼科装置使用光干涉来测定受检眼。眼科装置具有波长扫描型的光源、参照光学系统、校正光学系统、受光元件、信号处理部和运算部，其中，所述参照光学系统引导来自光源的光作为参照光；所述校正光学系统引导来自光源的光作为校正光；所述受光元件接收校正用干涉光，该校正用干涉光是对由校正光学系统所引导的校正光和由参照光学系统所引导的参照光进行合波(multiplexes)的光；所述信号处理部对当接收到校正用干涉光时从受光元件输出的校正用干涉信号进行采样。来自光源的光的频率周期性变化。信号处理部至少在来自光源的光的频率变化1个周期时的全频带中的第1频带对校正用干涉信号进行采样，并且在来自光源的光的频率变化1个周期时的全频带中的与第1频带不同的第2频带对校正用干涉信号进行采样。运算部计算第1波形与第2波形之间的偏移量，其中，所述第1波形为在第1频带中被采样且经傅里叶变换后的校正用干涉信号的波形；所述第2波形为在第2频带中被采样且经傅里叶变换后的校正用干涉信号的波形。