[发明专利]一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法

权利要求书

1.一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，其特征在于：当静电屏蔽包装袋紧贴空心平面线圈时，静电屏蔽包装袋的导电夹层可造成空心平面线圈的阻抗变化，即静电屏蔽包装袋的导电性能越好，则空心平面线圈的损耗越大，且空心平面线圈的阻抗实部能够反映其损耗变化；

具体包含如下步骤；

步骤1，把一个空心平面线圈放入屏蔽包装袋内部，并用两个平行的平板夹紧，使屏蔽包袋的平面与空心平面线圈紧贴；

步骤2，给已放置入屏蔽包装袋的空心平面线圈施加特定频率的正弦激励，进而测量出空心平面线圈在已放置入屏蔽包装袋的情况下的阻抗的实部；

步骤3，给未放置入屏蔽包装袋的空心平面线圈施加同步骤2同频率的正弦激励，进而测量出空心平面线圈在未放置入屏蔽包装袋的情况下的阻抗的实部；

步骤4，通过施加静电屏蔽包装袋的空心线圈的阻抗实部与裸空心线圈的阻抗实部的比值获取屏蔽包装袋的导电性，且比值越大导电性越好。

2.根据权利要求1所述的一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，其特征在于：空心平面线圈的采用PCB板实现，且在PCB板上用金属线画出同心线圈，线圈匝数在20圈～80圈之间。

3.根据权利要求1所述的一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，其特征在于：在步骤2和步骤3中，正弦激励的频率选取范围为100kHz～2MHz。

4.根据权利要求1所述的一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，其特征在于：所述平板采用非金属的材料。

5.根据权利要求1所述的一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，其特征在于：所述屏蔽包装袋为三层结构，其内层为静电耗散材料，中间层为导电的金属镀层或金属薄膜，外层为耐磨加固层。

6.根据权利要求5所述的一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，其特征在于：屏蔽包装袋采用在感应电能量检测仪上刚好接近50nJ 的屏蔽包装袋。