[发明专利]一种高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法有效
申请号: | 201911238254.6 | 申请日: | 2019-12-06 |
公开(公告)号: | CN111273398B | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 叶佳慧;陈分雄;蒋伟;熊鹏涛;韩荣;王杰;廖森辉 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(武汉) |
主分类号: | G02B6/124 | 分类号: | G02B6/124;G02B6/136;G02B27/00 |
代理公司: | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 | 代理人: | 付春霞 |
地址: | 430000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 耦合 效率 波导 光栅 耦合器 设计 方法 | ||
1.一种高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:设计波导光栅模型,所述波导光栅模型自上而下为上硅层、二氧化硅层和下硅层,所述上硅层为波导区域,所述波导区域的上表面设置有刻蚀深度相同的光栅区域;
步骤S2:利用非线性约束优化算法对波导光栅模型的光源与光栅的距离、光栅区域的占空比、光源的入射角度以及光源与光栅区域的相对位置同时进行优化;
步骤S3:经过多次迭代达到约束条件时,停止迭代,得到耦合效率最优的传统周期波导光栅结构;
步骤S4:调整波导区域的高度和光栅区域的刻蚀深度,进行仿真,得到M型波导光栅耦合器;
步骤S5:改变波导区域的高度、光栅区域的刻蚀深度以及光栅区域的占空比,并测量波导光栅的耦合效率,确定最高耦合效率的M型波导光栅耦合器。
2.根据权利要求1所述的高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于:步骤S1中,设计波导光栅模型的过程中采用有限时域差分法。
3.根据权利要求1所述的高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于:步骤S1中,所述二氧化硅层的厚度为300nm,下硅层的高度为3μm,所述波导区域的高度为220nm,光栅区域的刻蚀深度为100nm。
4.根据权利要求1所述的高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于:步骤S2中,所述光源的模式为TM模。
5.根据权利要求1所述的高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于:步骤S3中,所述约束条件满足:
xs≥tan(θ)*gap
其中xs是光源与光栅区域底部左边界的距离,θ是光源入射方向与竖直方向之间的夹角,gap是光源与波导光栅结构的距离。
6.根据权利要求1所述的高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于:步骤S3中,所述传统周期波导光栅结构的光源与光栅距离为0.6475μm,光栅占空比为0.6,光源与光栅区域底部左边界的距离xs为2.93μm,光源入射角度θ为11°。
7.根据权利要求1所述的高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于:步骤S4中,所述M型波导光栅耦合器的波导区域高度为340nm,光栅区域由高度为240nm的M型硅波导组成,光栅区域的刻蚀深度为120nm。
8.根据权利要求1所述的高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于:步骤S5中,所述波导光栅还包括功率监视器,所述功率监视器用于测量波导光栅的输入输出功率,计算出不同波导区域的高度、光栅区域的刻蚀深度以及光栅区域的占空比下波导光栅的耦合效率,从而确定最高耦合效率的M型波导光栅耦合器。
9.根据权利要求8所述的高耦合效率的M型波导光栅耦合器的设计方法,其特征在于,所述最高耦合效率的M型波导光栅耦合器的波导区域高度为340nm,光栅区域刻蚀深度为100nm,光栅区域的占空比为0.58。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学(武汉),未经中国地质大学(武汉)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911238254.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于文本山峰概率密度的文本预测方法
- 下一篇:用于操作自动分析装置的方法