[发明专利]一种测试系统及测试方法有效
申请号: | 201911240086.4 | 申请日: | 2019-12-03 |
公开(公告)号: | CN111082880B | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 陈谦益;吴昌智;谢光炜;周小诗;陈昆朴 | 申请(专利权)人: | 武汉虹信科技发展有限责任公司 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29;H04W24/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 张睿 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 系统 方法 | ||
本发明实施例提供一种测试系统及测试方法,系统包括基站设备、多台待测设备、多台转接治具、程控射频开关矩阵、多台测试仪表、控制设备和测试云;基站设备与每一台待测设备电连接,每一台待测设备通过对应的一台转接治具接入程控射频开关矩阵的第一端,程控射频开关矩阵的第二端与每一台测试仪表电连接,控制设备与测试云网络连接。本发明实施例能将多端口设备的测试过程自动化、集成化,实现同一台多端口设备不同端口上、下行同步测试,同时兼容不同类型阵列多端口设备的同步测试,能使得单台待测设备测试时间大幅降低,且有效提升测试仪表综合利用率,切实降低产品测试成本。标准化的测试方法,进一步提高了待测设备测试的一致性以及测试精度。
技术领域
本发明属于设备测试技术领域,尤其涉及一种测试系统及测试方法。
背景技术
随着移动通信技术的发展,现代通信技术已进入5G时代,现有的3G及4G设备端口数量少,测试系统布局相对简单,常规射频指标测试时间较短。随着5G时代的到来,远端及宏站设备的需求与日俱增,同时采用MIMO技术提升通信容量,这时设备系统就进入了一个新的时代,也就是从最初的单端口发展到了阵列多端口。
对于测试系统而言,阵列多端口规模相对于普通设备来说要大很多,设备测试端口的数量将提升数倍甚至数十倍,测试中若采用手动方式逐一切换测试端口,不仅操作非常复杂,而且在执行过程中也容易出错,这对测试效率及质量将是一个严峻考验;其次,多端口设备在执行测试时,若参考以前方案每次只对单端口的上行或下行射频指标进行测试,然后顺次逐一进行,完成所有端口测试,这样对于测试系统而言耗时长久,测试时间难以满足大批量生产交付需求,同时仪表综合利用率较低(测试下行时信号源闲置,测试上行时频谱仪闲置),经济效益低;最后,传统的测试系统只能同时测试一种类型的被测设备,系统兼容性差,不便于提升测试系统的柔性交付能力。
发明内容
为克服上述现有问题或者至少部分地解决上述问题,本发明实施例提供一种测试系统及测试方法。
根据本发明实施例的第一方面,提供一种测试系统,包括基站设备、多台待测设备、多台转接治具、程控射频开关矩阵、多台测试仪表、控制设备和测试云;
所述基站设备与每一台待测设备电连接,每一台待测设备通过对应的一台转接治具接入所述程控射频开关矩阵的第一端,所述程控射频开关矩阵的第二端与每一台测试仪表电连接,所述基站设备、每一台待测设备、程控射频开关矩阵、每一台测试仪表均通过交换机与所述控制设备电连接,所述控制设备与所述测试云网络连接。
可选地,每一台待测设备包括多个测试端口,所述程控射频开关矩阵的第一端包括多个设备连接端口,每一台待测设备的多个测试端口通过对应的转接治具和射频线与所述程控射频开关矩阵的多个设备连接端口连接。
可选地,所述转接治具为承载式转接治具,所述转接治具上安装有专用射频测试连接器,所述专用射频测试连接器的头部与待测设备的多个测试端口匹配接触连接,所述专用射频测试连接器的尾部通过射频线连接至所述程控射频开关矩阵的多个设备连接端口。
可选地,所述专用射频测试连接器的头部包括多个端口,多个端口的位置与对应的待测设备的多个测试端口的位置一一对应且重叠。
可选地,当任一台待测设备的部分测试端口通过对应的转接治具和射频线与所述程控射频开关矩阵的对应设备连接端口连接时,所述任一台待测设备的其它测试端口通过所述程控射频开关矩阵连接至50Ω标准负载。
可选地,所述多台待测设备为同种类型的多台射频远端设备或不同类型的多台射频远端设备。
可选地,所述程控射频开关矩阵的第二端包括多个仪表连接端口,每一台测试仪表包括多个端口,所述程控射频开关矩阵的多个仪表连接端口通过射频线与每一台测试仪表的多个端口连接。
可选地,所述测试仪表为信号源或频谱仪。
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