[发明专利]一种用于量子密钥生成系统成码错误率的计算方法有效

专利信息
申请号: 201911241648.7 申请日: 2019-12-06
公开(公告)号: CN112929155B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 北京中创为南京量子通信技术有限公司
主分类号: H04L9/08 分类号: H04L9/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211800 江苏省南京市浦*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 量子 密钥 生成 系统 错误率 计算方法
【权利要求书】:

1.一种用于量子密钥生成系统成码错误率的计算方法,其特征在于:该方法包括,

步骤1:量子密钥分发的发送方和接收方根据三发四收的三态协议分别进行量子态的制备和测量;

步骤2:发送方和接收方进行基矢比对;

步骤3:发送方和接收方进行纠错,得到接收方用Z基矢测量的比特错误率

EZ为接收方用Z基矢测量得到的比特错误率,在通信时实时测量得到;

步骤4:计算接收方用Z基矢测量的相位错误率

其中,Y+,-为发送方用X基矢制备量子态|+,同时接收方用X基矢测量量子态|-所得到的产额,Y+,+为发送方用X基矢制备量子态|+,同时接收方用X基矢测量量子态|+所得到的产额,EX为接收方用X基矢测量得到的比特错误率,Y+,-、Y+,+以及EX均在通信时实时测量得到;

步骤5:对丢弃基矢信息后的密钥进行隐私放大,得到成码率,具体如下:

其中,f为错误矫正系数,为发送方用a基矢发送、接收方用b基矢测量的、强度为α的光脉冲的产额,为发送方用a基矢发送、强度为α的光脉冲的、接收方用b基矢测量得到的比特错误;

为发送方用a基矢发送、接收方用b基矢测量的n光子态的产额, μ,ν,ω表示发送方采用三种不同光脉冲的平均光子数。

2.根据权利要求1所述的计算方法,其特征在于:发送方发送至少三种不同平均光子数的脉冲。

3.根据权利要求1所述的计算方法,其特征在于,所述量子态的制备包括发送方发送不少于三个量子态的脉冲,但其中三个量子态的制备按照三发四收的三态协议中的方式制备。

4.根据权利要求1所述的计算方法,其特征在于,所述量子态的测量包括接收方测量至少其中三个量子态,且这三个量子态为发送方根据三发四收的三态协议制备的三个量子态;接收方在测量这三个量子态时,按照三发四收的三态协议的方式测量。

5.根据权利要求1所述的计算方法,其特征在于,步骤3和步骤4的实施次序可以相互调换,或同时进行。

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