[发明专利]一种高性能混相ZnMgO薄膜的制备方法及ZnMgO薄膜在审

专利信息
申请号: 201911241727.8 申请日: 2019-12-06
公开(公告)号: CN110970529A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 刘可为;侯其超;申德振;陈星;张振中;李炳辉 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/02;H01L21/67;H01L31/0296;C23C16/40;C23C16/52
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 性能 znmgo 薄膜 制备 方法
【说明书】:

发明提供的高性能混相ZnMgO薄膜的制备方法,将衬底放入生长腔内,以有机锌化合物作为锌源,有机镁化合物作为镁源,以高纯氧气为氧源,于高温条件下生长ZnMgO薄膜,通过生长温度、锌源、镁源和氧气流量的精确控制,实现了高质量ZnMgO薄膜的生长,为制备相应的高性能紫外光电器件打下了良好的材料基础。

技术领域

本发明涉及半导体材料生产技术领域,特别涉及一种高性能混相ZnMgO薄膜的制备方法及ZnMgO薄膜。

背景技术

ZnMgO薄膜材料带隙可调范围较宽(3.37-7.8eV),在原理上可以应用于370-160nm范围内的紫外光电器件等领域。而且ZnMgO材料具有抗辐射能力强、原材料资源丰富、外延生长温度低等一系列优点,被相关研究人员所深入研究并寄予厚望。ZnMgO材料具有两种稳定结构,一种是六角纤锌矿结构,另一种是立方闪锌矿结构,这两种结构的ZnMgO材料各有优劣,例如,六角相的ZnMgO响应度高,但是暗电流也大;立方相的ZnMgO暗电流低,但响应度也不高。研究发现,混相(六角相和立方相混合)ZnMgO材料同时能满足高响应度和低暗电流,从而实现相应高性能紫外光电探测器件的研制。

目前来说,制备ZnMgO薄膜的手段主要有PLD(脉冲激光沉积)技术、磁控溅射、MBE(分子束外延)、MOCVD(金属有机物化学气相沉积)等方法。由于ZnMgO薄膜材料存在严重的分相问题,随着Mg组分的增加,相应的ZnMgO薄膜在制备过程中逐渐由六角结构向立方结构过渡,如何保证薄膜具有一定的结晶质量,同时实现薄膜性能的提升,这时候合适的衬底就显得尤为重要。

发明内容

有鉴如此,有必要针对现有技术存在的缺陷,提供一种MgZnO薄膜结晶质量高且材料电学性质易调控的高性能混相ZnMgO薄膜的制备方法。

为实现上述目的,本发明采用下述技术方案:

一种高性能混相ZnMgO薄膜的制备方法,包括下述步骤:

将衬底放入生长腔内,以有机锌化合物作为锌源,有机镁化合物作为镁源,以高纯氧气为氧源,于高温条件下生长ZnMgO薄膜。

在一些较佳的实施例中,所述衬底为蓝宝石衬底。

在一些较佳的实施例中,所述有机锌化合物为二乙基锌和/或二甲基锌,有机镁化合物为对甲基二茂镁。

在一些较佳的实施例中,所述有机锌化合物以高纯氮气为载气,所述载气流速为5-20sccm;所述有机镁化合物以高纯氮气为载气,所述载气流速为10-40sccm;所述。

在一些较佳的实施例中,所述高温条件为500-800℃。

在一些较佳的实施例中,所述生长的时间为1h-3h;所述生长的真空度为2x102-1x104Pa。

在一些较佳的实施例中,将所述衬底放入腔体中之前还包括对所述衬底进行清洗的步骤。

在一些较佳的实施例中,将所述衬底放入腔体中之后对所述衬底高温处理之前,还包括对生长腔抽真空处理的步骤。

在一些较佳的实施例中,利用金属有机物化学气相沉积设备生长ZnMgO薄膜,生长结束后,降低所述衬底温度到室温,得到ZnMgO薄膜;所述降温的速率为0.2-0.8℃/s。

另外,本发明还提供了一种高性能混相ZnMgO薄膜,由所述的ZnMgO薄膜制备方法制备得到。

本发明采用上述技术方案的优点是:

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