[发明专利]内存参数调试方法及装置

说明书

本申请提供了一种内存参数调试方法及装置，针对每一个待测试的K值，根据预存的各字节的DQS引脚和CK引脚的走线长度，获得该K值下每个字节的内存驱动参数。进而对内存控制器进行内存读写测试，获取在该K值对应的内存驱动参数下内存控制器的最大工作频率与最小工作频率，最后根据各待测试的K值下内存控制器的最大工作频率与最小工作频率确定出工作性能最优的K值；该K值所对应内存驱动参数即为内存控制器的内存驱动参数。由于K值实际受PCB板材、走线铜厚、走线线宽、过孔和温度环境等多重因素的影响，因此通过上述方式得到的内存驱动参数，可以充分考量实际环境下各内存驱动参数的优劣，从而得到工作性能优良的内存驱动参数。

技术领域

本申请涉及参数调试技术领域，具体而言，涉及一种内存参数调试方法及装置。

背景技术

随着通信技术的发展，电子设备的数据处理容量越来越大，带宽要求越来越高，传输时延要求越来越小，可靠性要求越来越高，环境适应范围要求越来越宽。控制器的内存单元作为电子设备最核心的组成单元之一，其访问速率直接影响控制器的整体处理性能和时延，内存频率越高，内存访问带宽越大，控制器处理性能越快，但是高速率又会带来可靠性降低的问题，环境适应范围小的问题。如何设计出高速率、高可靠性、宽温的内存控制器接口成为数据通信领域中的设计难题。

在给定的控制器平台上，内存的高速率、高可靠性和高适应性主要取决于内存控制器驱动参数和设计的匹配度。匹配度越好，获得的性能和可靠性就越高，环境适应范围越宽，速率越高。如何获得匹配度好的内存控制器驱动参数成为了目前内存控制领域的重要课题。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种内存参数调试方法及装置，用以解决如何获得匹配度好的内存控制器驱动参数的问题。

本申请实施例提供了一种内存参数调试方法，包括：

针对每一个待测试的K值，根据预存的各字节的DQS引脚和CK引脚的走线长度，获得该待测试的K值下每个字节的内存驱动参数；所述K值为根据理论电气信号单位传播速度确定的电气信号单位传播速度；

对内存控制器进行内存读写测试，获取在该待测试的K值对应的所述内存驱动参数下所述内存控制器的最大工作频率与最小工作频率；

根据各待测试的K值下所述内存控制器的最大工作频率与最小工作频率确定出工作性能最优的K值；所述工作性能最优的K值所对应内存驱动参数为所述内存控制器的内存驱动参数。

在上述实现过程中，可以针对每一个待测试的K值，根据预存的各字节的DQS(Bi-directional Data Strobe，双向数据控制引脚)引脚和CK(时钟信号)引脚的走线长度，获得该待测试的K值下每个字节的内存驱动参数，进而对内存控制器进行内存读写测试，获取在该待测试的K值对应的所述内存驱动参数下内存控制器的最大工作频率与最小工作频率。进而即可根据各待测试的K值下内存控制器的最大工作频率与最小工作频率确定出工作性能最优的K值，以工作性能最优的K值所对应内存驱动参数作为内存控制器的内存驱动参数。由于K为理论上的电气信号单位传输延迟时间，实际受PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)板材、走线铜厚、走线线宽、过孔和温度环境等多重因素的影响，因此通过上述方式得到的内存驱动参数，可以充分考量实际环境因素下各内存驱动参数的优劣，从而得到工作性能优良(即匹配度优良)的内存驱动参数。

进一步地，所述针对每一个待测试的K值，根据预存的各字节的DQS引脚和CK引脚的走线长度，获得该待测试的K值下每个字节的内存驱动参数包括：针对每一个待测试的K值，根据预存的各字节的DQS引脚和CK引脚的走线长度，得到该待测试的K值下每个字节的CK引脚和DQS引脚的信号传输时间差；根据所述每个字节的CK引脚和DQS引脚的信号传输时间差，得到该待测试的K值下每个字节的内存驱动参数。