[发明专利]等离子体喷射触发间隙测试装置及测试方法

说明书

等离子体喷射触发间隙测试装置及测试方法，等离子体喷射触发间隙测试装置中，充电断路器QF1一端连接直流电源，另一端连接电容器组CS高压输出端，电容器组CS另一端接地；试验断路器QF2一端与电容器组CS高压输出端相连，电抗器L一端连接试验断路器QF2，另一端与快速机械开关S高压端相连；电阻分压器PT高压端与等离子体喷射触发间隙TSG高压端相连，另一端与地相连，罗格夫斯基线圈CT套在等离子体喷射触发间隙TSG低压端，保护球隙BQ一端连接快速机械开关S高压端，另一端与地相连，控制器输入端与电阻分压器PT测量信号连接，控制器第一输出端与驱动模块驱动输入端连接，第二输出端与快速机械开关S控制端连接。

技术领域

本发明涉及等离子体喷射技术领域，特别是一种等离子体喷射触发间隙测试装置及测试方法。

背景技术

等离子体喷射触发间隙可在极低的工作系数下，利用脉冲放电激励高速等离子体喷射贯穿主间隙，有效触发开关导通。在特高压直流输电工程中，等离子体喷射触发间隙是保护换流站的重要设备之一，当交流侧出现输出故障时，直流侧等离子体喷射触发间隙和直流断路器同时动作，触发间隙在100μs内导通，约30ms后，断路器导通将电流转移到断路器上，触发间隙熄弧断开。为验证等离子体喷射触发间隙具有直流大容量通流能力，需要等离子体喷射触发间隙测试装置及测试方法来验证其通流能力。

等离子体喷射触发间隙的直流大容量试验回路需要模拟其在直流系统中的实际工况，由于触发间隙在导通前要承受高电压，相对应的高压直流系统实现难度大，并且建成这样的试验回路投资巨大。因此使用一种等离子体喷射触发间隙的测试装置及测试方法十分必要。

在背景技术部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本发明背景的理解，因此可能包含不构成本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了等离子体喷射触发间隙测试装置及测试方法，可有效替代实际工况下等离子体喷射触发间隙所需投资巨大的直流大容量试验回路。本发明的目的是通过以下技术方案予以实现。

一种等离子体喷射触发间隙测试装置包括，

直流电源U，

充电断路器QF1，其一端连接直流电源，另一端连接电容器组CS的高压输出端，所述电容器组CS的另一端接地；

试验断路器QF2，其一端与电容器组CS的高压输出端相连，

电抗器L，其一端连接所述试验断路器QF2，另一端与快速机械开关S的高压端相连；

快速机械开关S，其另一端连接等离子体喷射触发间隙TSG的低压端；

电阻分压器PT，其高压端与所述等离子体喷射触发间隙TSG的高压端相连，另一端与地相连，

罗格夫斯基线圈CT，其套在所述等离子体喷射触发间隙TSG的低压端，

保护球隙BQ，其一端连接快速机械开关S的高压端，另一端与地相连，

驱动模块，其输出端与等离子体喷射触发间隙TSG的触发端连接，

控制器，其输入端与所述电阻分压器PT的测量信号连接，控制器的第一输出端与驱动模块的驱动输入端连接，第二输出端与快速机械开关S的控制端连接。

所述的等离子体喷射触发间隙测试装置中，电容器组CS通过试验断路器QF2与高压电抗器L连接构成低频振荡回路。

所述的等离子体喷射触发间隙测试装置中，控制器包括单片机、专用集成电路ASIC或现场可编程门阵列FPGA，控制器包括存储单元，存储单元包括一个或多个只读存储器ROM、随机存取存储器RAM、快闪存储器或电子可擦除可编程只读存储器EEPROM。