[发明专利]去除干扰信号的方法、深度检测组件和电子装置

权利要求书

1.一种去除干扰信号的方法，用于深度检测组件，其特征在于，所述深度检测组件包括光发射器和光接收器，所述光发射器用于发射第一波段的光线，所述光接收器包括第一光接收器和第二光接收器，所述第一光接收器用于接收所述第一波段的光线，所述第二光接收器用于接收第二波段的光线，所述第一波段与所述第二波段完全错开，所述去除干扰信号的方法包括：

开启所述光发射器，通过所述第一光接收器接收所述第一波段的光线得到当前第一光线信号，通过所述第二光接收器接收所述第二波段的光线得到当前第二光线信号；

根据所述当前第二光线信号和在所述光发射器关闭时第二光线信号与干扰信号之间的强度对应关系计算当前干扰信号，其中，所述干扰信号为所述第一光接收器接收自然光中并非由所述光发射器发出的所述第一波段的光线；和

根据所述当前第一光线信号和所述当前干扰信号计算有效光线信号。

2.根据权利要求1所述的去除干扰信号的方法，其特征在于，在所述根据所述当前第二光线信号和在所述光发射器关闭时第二光线信号与干扰信号之间的强度对应关系计算当前干扰信号之前，所述去除干扰信号的方法还包括：

在所述光发射器关闭时，通过所述第一光接收器接收所述第一波段的光线得到标定干扰信号，通过所述第二光接收器接收所述第二波段的光线得到标定第二光线信号；和

根据所述标定第二光线信号和所述标定干扰信号确定所述强度对应关系。

3.根据权利要求1所述的去除干扰信号的方法，其特征在于，在所述根据所述当前第二光线信号和在所述光发射器关闭时第二光线信号与干扰信号之间的强度对应关系计算当前干扰信号之前，所述去除干扰信号的方法还包括：

通过第一测试接收器接收自然光中的所述第一波段的光线得到标定干扰信号，通过第二测试接收器接收自然光中的所述第二波段的光线得到标定第二光线信号；和

根据所述标定第二光线信号和所述标定干扰信号确定所述强度对应关系。

4.根据权利要求2或3所述的去除干扰信号的方法，其特征在于，所述去除干扰信号的方法还包括：

多次检测所述标定第二光线信号和对应的所述标定干扰信号；

所述根据所述标定第二光线信号和所述标定干扰信号确定所述强度对应关系，包括：

根据多次检测的所述标定第二光线信号和对应的所述标定干扰信号确定所述强度对应关系。

5.根据权利要求1所述的去除干扰信号的方法，其特征在于，所述去除干扰信号的方法还包括：

获取在不同环境类型下的多组所述强度对应关系；

识别当前环境类型；

所述根据所述当前第二光线信号和在所述光发射器关闭时第二光线信号与干扰信号之间的强度对应关系计算当前干扰信号，包括：

根据所述当前第二光线信号和与所述当前环境类型对应的一组所述强度对应关系计算所述当前干扰信号。

6.根据权利要求1所述的去除干扰信号的方法，其特征在于，通过所述第一光接收器接收所述第一波段的光线得到当前第一光线信号与通过所述第二光接收器接收所述第二波段的光线得到当前第二光线信号的时间间隔小于预定值。

7.根据权利要求1所述的去除干扰信号的方法，其特征在于，所述深度检测组件为飞行时间组件或结构光组件。