[发明专利]测试头及测试方法

权利要求书

1.一种测试头，其特征在于，包括外壳、探针和挡板，所述外壳内设有安装腔，外壳的一侧设有连通所述安装腔的安装口，所述探针包括若干根，若干根所述探针以设定的排布方式设于所述安装腔内，且所述探针均可伸缩于所述安装腔内外，所述挡板上设有一个以上的通孔，且所述挡板可拆卸地设于所述安装口上，对应的所述探针从所述通孔伸出所述安装腔外。

2.如权利要求1所述的测试头，其特征在于，还包括电路板，所述电路板设于所述外壳内，所述电路板上设有时钟信号接口、接地信号接口、数据信号接口以及电源接口，若干根所述探针均至少与所述时钟信号接口、接地信号接口、数据信号接口和电源接口其中的二个连接。

3.如权利要求2所述的测试头，其特征在于，所述外壳包括壳体和壳罩，所述壳体的一侧设有连接所述安装口的开口，所述壳罩可拆卸地设于所述壳体上并封盖所述开口。

4.如权利要求3所述的测试头，其特征在于，所述壳罩的两侧设有连接脚，所述连接脚的内侧设有卡扣座，所述壳体的对应位置设有卡扣，所述卡扣座卡设于所述卡扣上。

5.如权利要求3所述的测试头，其特征在于，所述壳体上对应于所述安装口的位置设有第一卡槽，所述壳罩的对应位置设有第二卡槽，所述挡板相对的两侧分别设于所述第一卡槽中及所述第二卡槽中。

6.一种测试方法，用于权利要求1-5任一项所述的测试头，所述方法包括：将待测试的芯片与所述测试头连接，使芯片与探针接触；芯片将预设信息发送至探针，探针将接收到的预设信息传输给测试头的IC，IC根据预设信息识别该芯片；IC匹配相应的数据对该芯片进行操作；其特征在于，

所述IC内储存有用于与芯片匹配操作的数据信息，所述数据信息被配置为以设定的规则进行分组，被配置为同一分组的数据信息对应于相同的探针输出；

当对应的探针接触到芯片，其对应分组的数据信息可被IC调用，其他分组的数据信息不可被IC调用；

IC从该分组中依次调取数据信息逐一地与所述芯片进行匹配，芯片接收匹配的数据信息进行判断，并将判断结果反馈给IC；

若判断结果为不合法，则继续匹配下一数据信息进行判断；若判断结果为合法，则匹配终止；

IC用当前匹配结果合法的数据信息对该芯片进行数据操作。

7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述数据信息进行分组的规则为：以对应芯片所需的探头数量相同的分为同一组。

8.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述数据信息包括通信协议的类型、芯片版本数据以及品牌数据，所述IC调取所述通信协议的类型、芯片版本数据和品牌数据其中之一与所述芯片进行匹配。

9.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述数据操作包括烧录和复位。

10.如权利要求6-9任一项所述的测试方法，其特征在于，当芯片与探针接触时，探针根据所接收到的预设信息选择相应的接口的与IC通信，所述IC根据与探针的该次通信判断出该探针所需要实现的功能，从而关闭该探针与非实现对应功能的接口的连接。