[发明专利]存储介质、透镜装置、图像拾取装置和处理装置在审
申请号: | 201911258256.1 | 申请日: | 2019-12-10 |
公开(公告)号: | CN111327798A | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
发明(设计)人: | 山田智也;后藤和史 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;H04N5/232;H04N5/217 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 宋岩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 介质 透镜 装置 图像 拾取 处理 | ||
1.一种存储介质,该存储介质存储用于取得校正量的校正数据,该校正量用于关于在由透镜装置形成的图像中的光量分布来校正从该图像取得的图像数据,其中,
校正数据包括关于像高h的n阶多项式的系数,其中n是非负整数,所述系数与透镜装置的状态对应,
所述系数满足第一不等式:
-0.15≤dD′(h)-dDlens(h)≤1.98,
其中dDlens(h)表示在像高h处的光量的每一像高h的增加量dh的变化量,并且dD′(h)表示在像高h处的所述n阶多项式的值的倒数的每一增加量dh的变化量。
2.根据权利要求1所述的存储介质,其中,透镜装置满足不等式
1.10Ft/Fd4.00;以及
-0.01(Fd-Fw)/Log(fd/fw)1.20,
其中Fw表示在广角端处的最小F数,Ft表示在望远端处的最小F数,fw表示在广角端处的焦距,ft表示在望远端处的焦距,并且Fd表示在由如下表达式表示的焦距fd处的最小F数:
fd=Fw/Ft×ft。
3.根据权利要求1所述的存储介质,其中,满足第一不等式的像高h满足如下不等式:
0.10×Y≤h≤0.80×Y,
其中,Y表示最大像高。
4.根据权利要求1所述的存储介质,其中,校正数据是在满足如下不等式的透镜装置的状态下的校正数据:
0.10≤|dDlens_0n-dDlens_nY|,
其中,dDlens_0n表示在像高零和像高hn之间的图像的相对照度的倾斜,并且dDlens_nY表示像高hn与最大像高Y之间的图像的相对照度的倾斜。
5.根据权利要求4所述的存储介质,其中,像高hn满足如下不等式:
0.10×Y≤hn≤0.80×Y。
6.根据权利要求1所述的存储介质,其中,如下不等式被满足:
Ave_nY/Ave_0n≤0.95,
其中,Ave_0n表示在从像高零到像高hn的每个像高处的图像的相对照度与由所述n阶多项式表示的校正量的乘积的平均值,并且Ave_nY表示在从像高hn到最大像高Y的每个像高处的图像的相对照度与由所述n阶多项式表示的校正量的乘积的平均值。
7.根据权利要求4所述的存储介质,其中,像高hn满足如下不等式:
0.70×Y≤hn1.00×Y。
8.根据权利要求1所述的存储介质,其中,系数包括作为所述n阶多项式的四阶多项式的系数A0、系数A1、系数A2、系数A3和系数A4,所述n阶多项式是由如下表达式来表示的:
D=A4×h4+A3×h3+A2×h2+A1×h+A0,
其中,D表示校正量。
9.根据权利要求8所述的存储介质,其中,系数A3和系数A4满足如下不等式:
-0.10A3+10×A40.10。
10.根据权利要求8所述的存储介质,其中,系数A3和系数A4满足如下不等式:
|A4|≤0.0020;以及
|A3|≤0.0150。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911258256.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。