[发明专利]测试数据的处理方法以及装置

说明书

本申请实施例提供了测试数据的处理方法以及装置，用于在执行数据库测试后，在一定程度上可基于测试数据生成更高精确度的测试结果。本申请实施例提供的测试数据的处理方法，包括：获取数据库测试任务所产生的第一测试数据，根据第一测试数据，筛选区间范围内的测试事务吞吐率达到第一测试事务吞吐率阈值的初始时间区间，第一测试事务吞吐率阈值为测试基准所要求的测试事务吞吐率有效范围的下限值；在初始时间区间中的第二测试数据中，通过滑动时间区间依次检测区间内测试数据的测试事务吞吐率，并确定取得最高测试事务吞吐率的目标时间区间；根据目标时间区间中的第三测试数据生成数据库测试任务的测试结果。

技术领域

本申请涉及测试领域，尤其涉及测试数据的处理方法以及装置。

背景技术

近些年来，随着数据库测试基准中TPC-E测试基准的推广，广大消费者或者企业愈加重视数据库在TPC-E测试基准下的性能，同时也应当看到的是，TPC-E测试基准从理论层面落实到实际的测试产品时，仍会伴随着一系列需要解决的问题。

以测试报告为例，在对数据库执行完数据库测试后，可得到测试数据，基于这些测试数据，在生成用于评价数据库在TPC-E测试基准下的性能的测试结果。

而现有的TPC-E测试工具中所生成的测试结果，其反应的数据库的测试性能，其往往与数据库的实际性能仍有差距，也就是说，仍然存在一定的误差，其精确度尚待提高。

发明内容

本申请实施例提供了测试数据的处理方法以及装置，用于在执行数据库测试后，在一定程度上可基于测试数据生成更高精确度的测试结果。

第一方面，本申请实施例提供了一种测试数据的处理方法，方法包括：

获取数据库测试任务所产生的第一测试数据，数据库测试任务用于根据测试基准对目标数据库执行数据库测试，第一测试数据包括目标数据库对于多个测试事务的处理结果；

根据第一测试数据，筛选区间范围内的测试事务吞吐率达到第一测试事务吞吐率阈值的初始时间区间，第一测试事务吞吐率阈值为测试基准所要求的测试事务吞吐率有效范围的下限值；

在初始时间区间中的第二测试数据中，通过滑动时间区间依次检测区间内测试数据的测试事务吞吐率，并确定取得最高测试事务吞吐率的目标时间区间，第二测试数据为根据初始时间区间从第一测试数据中筛选出来的测试数据，滑动时间区间符合测试基准所要求的测试报告的时间区间要求；

根据目标时间区间中的第三测试数据生成数据库测试任务的测试结果，第三测试数据为根据目标时间区间从第二测试数据中筛选出来的测试数据。

在示例性的实施例中，测试基准为TPC-E测试基准，测试事务吞吐率的计算通过如下步骤实现：

根据测试事务吞吐率计算公式计算每个待测时间区间对应的测试事务吞吐率，测试事务吞吐率计算公式为：

Q＝N/T，

其中，Q用于指示待测时间区间对应的测试事务吞吐率，N用于指示待测时间区间对应的完成股票交易事务的处理数量，T为待测试区间的时间长度；

将测试事务吞吐率达到第一测试事务吞吐率阈值的待测试区间确定为初始时间区间。

在示例性的实施例中，获取数据库测试任务所产生的第一测试数据之前，方法还包括：

在对目标数据库执行数据库测试以及向目标数据库发送测试事务的过程中，根据测试事务吞吐率计算公式监测目标数据库实时的测试事务吞吐率，并调整测试事务发送速率，使得目标数据库实时的测试事务吞吐率保持为标准事务吞吐率，标准事务吞吐率通过标准事务吞吐率计算公式计算得到，标准事务吞吐率计算公式为：

P＝C/S，