[发明专利]阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置

说明书

本发明公开了一种阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置，阈值电压产生电路包括：可调低压源模块，用于产生扫描电压，扫描电压以第一步长进行步进调节；可调基准源模块，用于产生基准电压，基准电压以第二步长进行步进调节；以及加法模块，分别与可调低压源模块和可调基准源模块连接，用于对扫描电压和基准电压进行加法运算，以输出阈值电压，其中，第一步长小于第二步长且第一步长与第二步长属于不同的量级。可以实现对充电保护芯片高精度的过压阈值扫描和快速测试。

技术领域

本发明涉及电路设计技术领域，具体涉及一种阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置。

背景技术

目前的芯片多项关键模拟指标在研发设计阶段不进行一体化测试，多项性能指标在多套系统中测试或者测试效率不高，给测试工作的实施带来了很大的不便；系统的测量精度不高和测试数据准确性差异等，存在误测误判的问题，加上芯片设计、工艺及封装等方面的因素影响，系统供给芯片所需的信号精度不够，对于准确的评估芯片性能带来了一定的困扰。

如现有技术中，在使用测试机对充电保护芯片的性能进行测试时，需要对充电保护芯片进行过阈值电压扫描，同时对充电电池的数量进行调节时，充电保护芯片的过压阈值也要相应的进行调节，但是现有的测试机台自身的精度和分辨率无法满足测试要求，在芯片测试中不能精确测试芯片各指标项、不能给被测芯片提供较精确的信号源，且外围电路较复杂、测试时间长、硬件成本高且维护难度增加等缺陷，制约了测试效率的提高。

因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置，可以实现对充电保护芯片高精度的过压阈值扫描和快速测试。

根据本发明提供的一种阈值电压产生电路，包括：可调低压源模块，用于产生扫描电压，扫描电压以第一步长进行步进调节；可调基准源模块，用于产生基准电压，基准电压以第二步长进行步进调节；以及加法模块，分别与所述可调低压源模块和所述可调基准源模块连接，用于对所述扫描电压和所述基准电压进行加法运算，以输出阈值电压，其中，所述第一步长小于所述第二步长且所述第一步长与所述第二步长属于不同的量级。

优选地，所述可调低压源模块包括：第一参考电压单元，用于提供第一参考电压；第一数模转换单元，第一输入端与所述第一参考电压单元连接，以接收所述第一参考电压，第二输入端接收第一数字信号，用于根据所述第一数字信号和所述第一参考电压输出第一模拟电压；以及第一运算放大单元，与所述第一数模转换单元连接，用于根据所述第一模拟电压输出所述扫描电压。

优选地，所述第一数模转换单元包括：第一运算放大器，同相输入端与所述第一参考电压单元连接，输出端依次通过第一电阻和第一电容接地；第一数模转换器，第一参考电压输入端与所述第一运算放大器的反相输入端连接，第二参考电压输入端通过所述第一电阻与所述第一运算放大器的输出端连接，第一模拟接地端通过第二电阻接地，第二模拟接地端通过第四电阻接地，时钟输入端接收所述第一数字信号，输出端输出所述第一模拟电压；以及第二运算放大器，同相输入端接地，反相输入端与所述第一数模转换器的第一模拟接地端连接，输出端通过第三电阻与所述第一数模转换器的第二模拟接地端连接。

优选地，所述第一运算放大单元包括：第三运算放大器，同相输入端接收所述第一模拟电压，反相输入端与输出端连接，所述第三运算放大器的输出端输出所述扫描电压。

优选地，可调基准源模块包括：第二参考电压单元，用于提供第二参考电压；第二数模转换单元，第一输入端与所述第二参考电压单元连接，以接收所述第二参考电压，第二输入端接收第二数字信号，用于根据所述第二数字信号和所述第二参考电压输出第二模拟电压；以及第二运算放大单元，与所述第二数模转换单元连接，用于根据所述第二模拟电压输出所述基准电压。