[发明专利]高峰值功率1550nm激光二极管芯片及制备方法在审
申请号: | 201911259265.2 | 申请日: | 2019-12-10 |
公开(公告)号: | CN110957636A | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 曲轶;任永学;李再金;赵志斌;乔忠良;李林 | 申请(专利权)人: | 海南师范大学 |
主分类号: | H01S5/32 | 分类号: | H01S5/32;H01S5/026 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 曹鹏飞 |
地址: | 571158 *** | 国省代码: | 海南;46 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 峰值 功率 1550 nm 激光二极管 芯片 制备 方法 | ||
1.一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片,其特征在于,包括:多个PN结(1)、高掺杂电阻区(2)和N型衬底(3);
所述多个PN结(1)从下到上依次叠加;任意相邻两个PN结(1)通过所述高掺杂电阻区(2)连接;
所述N型衬底(3)位于最低层PN结(1)的下方。
2.如权利要求1所述的一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片,其特征在于,所述PN结(1)包括:N型波导层(11)、发光区(12)、P型波导层(13);
所述发光区(12)位于所述N型波导层(11)和P型波导层(13)之间。
3.如权利要求1所述的一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片,其特征在于,所述高掺杂电阻区(2)由N型高掺杂区(21)和P型高掺杂区(22)组成;所述N型高掺杂区(21)位于P型高掺杂区(22)的上方;
所述高掺杂电阻区(2)的总厚度范围为15nm±2nm。
4.如权利要求3所述的一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片,其特征在于,所述N型高掺杂区(21)中的InP掺杂浓度范围为4.5×1020cm-3至6.5×1020cm-3,其厚度范围为10-12nm。
5.如权利要求4所述的一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片,其特征在于,所述P型高掺杂区(22)中的InP掺杂浓度范围为7.5×1018cm-3至8.5×1018cm-3,其厚度范围为3-5nm。
6.一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片的制备方法,其特征在于,包括:
S1、在N型衬底上从下至上依次生长N型波导层、发光区、P型波导层,完成第一个PN结的生长;
S2、在所述P型波导层上级联生长高掺杂电阻区;
S3、在所述高掺杂电阻区的上方从下至上依次生长N型波导层、发光区、P型波导层,完成下一个PN结的生长;
S4、依次重复步骤S2和S3,直至完成多个PN结的生长。
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