[发明专利]一种IGCT器件阻断特性参数测试单元及其测试装置

说明书

本发明提供一种IGCT器件阻断特性参数测试单元，包括AC电源、电压电流设定电路、往被测IGCT器件输入正弦半波电压的高压整流电路以及用于连接被测IGCT器件的控制电路和信号显示电路，所述AC电源的输出端连接所述高压整流电路的第一输入端，所述电压电流设定电路分别连接所述高压整流电路的第二输入端；还提供一种IGCT器件阻断特性参数测试装置，包括用于夹持被测IGCT器件的测试夹具和上述的IGCT器件阻断特性参数测试单元。本发明通过测试单元与恒温恒压夹具配合对IGCT器件的相关静态参数进行测试，操作简单，通过对各种参数的测试来判定其质量及性能的好坏，测试效果稳定，测试数据具有较高的准确性和可靠性，从而提高了IGCT器件的应用水平。

技术领域

本发明涉及电力设备测试领域，更具体地，涉及一种IGCT器件阻断特性参数测试单元及其测试装置。

背景技术

相对于交流电网中的电力电子设备，直流电网中的电力电子设备具有很多不同的特性。而集成门极换流晶闸管(integrated gate commutated thyristor，IGCT)具有更低的通态压降、更高的可靠性以及更低的制造成本，且具有更高的阻断电压和通流能力的应用，为IGCT在中高压大容量的直流电网中应用提供了可能的契机。

随着以柔性直流配电网为代表的直流电网技术的发展和示范工程建设，电网中基于IGCT器件的装备，如直流断路器、直流换流器和直流变压器等逐渐增多，相应地对于IGCT器件的测试需求也日益增加。

目前没有一种装置可以很好的测试IGCT器件阻断特性(断态重复峰值电压(VDRM)、断态重复峰值电流(IDRM))。

发明内容

本发明为克服上述背景技术中所述的目前没有一种装置可以很好的测试IGCT器件阻断特性(断态重复峰值电压(VDRM)、断态重复峰值电流(IDRM))的问题，提供一种IGCT器件阻断特性参数测试单元及其测试装置。本发明用于对IGCT器件的相关静态参数进行测试，操作简单，通过对各种参数的测试来判定其质量及性能的好坏，测试效果显著，提高了IGCT器件的应用水平。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种IGCT器件阻断特性参数测试单元，包括AC电源、电压电流设定电路、往被测IGCT器件输入正弦半波电压的高压整流电路以及用于连接被测IGCT器件的控制电路和信号显示电路，所述AC电源的输出端连接所述高压整流电路的第一输入端，所述电压电流设定电路分别连接所述高压整流电路的第二输入端。这样，在测试时，高压整流电路的输出端连接在被测的IGCT器件上，往被测的IGCT器件输出正弦半波电压，被测IGCT器件上同时连接有信号显示电路，对被测IGCT器件上的测试信号进行采集并显示，其工作方式为：先通过电压电流设定电路设置好需要加载的电压和被测元件保护的漏电流；然后打开AC电源，使测试单元带电；接着AC电源输出的交流电通过高压整流电路，输出正弦半波电压，并施加给被测IGCT器件进行测试，测试后的信号经过信号显示电路进行显示。

进一步的，所述控制电路包括依次电性连接的电压控制电路、取样电路和单片机处理器。这样，在测量前必须通过电压电流设定电路先设定好电压、漏电流保护的大小；当取样电路测得被测IGCT器件的漏电流达到设定值时，控制电路中的电压控制电路输出低电平信号将测试台主电路中的接触器关断，测试回路失电，被测IGCT器件两端无电压，从而起到保护IGCT器件的作用。

进一步的，所述的信号显示电路包括电压显示电路和电流显示电路。这样，采集被测IGCT器件的电流信号和电压信号就可以具有一定的测试代表性，当然还可以测试其他数据。

进一步的，所述电压显示电路包括电压衰减电路、第一控制板、第一运算放大器、第一显示模块，所述电压衰减电路一端连接所述取样电路，另一端连接所述第一控制板的一端，所述第一控制板的另一端连接所述第一运算放大器的输入端，所述第一运算放大器的输出端连接所述第一显示模块。这样，测试电压是通过电压衰减电路衰减后取样至第一控制板，经第一运算放大器、采样保持输出到第一显示模块显示电压信号。