[发明专利]一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法及系统

权利要求书

1.一种基于引力拟合的转换波剩余静校正方法，其特征在于，包括：

根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位；

根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位；

选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量，根据所述转换波剩余静校正量对检波点的检测数据进行静校正。

2.根据权利要求1所述的转换波剩余静校正方法，其特征在于，所述根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位具体包括：

在根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面上选取多段反映波形特征和能量特征的同相轴；

对多段所述同相轴插值得到所述第一分析层位。

3.根据权利要求1所述的转换波剩余静校正方法，其特征在于，所述根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位具体包括：

通过纵波和转换波速度比值将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面；

确定所述转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位。

4.根据权利要求3所述的转换波剩余静校正方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

通过所述第二分析层位对所述转换波叠加剖面进行层拉平。

5.根据权利要求1所述的转换波剩余静校正方法，其特征在于，所述选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量具体包括：

确定所述第二分析层位多个位置预设时间间隔内检测数据的振幅能量值得到多个位置的质子串；

依次改变每个检测数据在时间方向上的位置形成与其他检测数据的引力形成目标函数，确定所述目标函数取得最大值时各检测数据的位置与预设时间间隔内的初始位置的差为转换波剩余静校正量。

6.一种基于引力拟合的转换波剩余静校正系统，其特征在于，包括：

纵波分析层位确定单元，用于根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面得到第一分析层位；

横波分析层位确定单元，用于根据纵波和转换波速度将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，并得到转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位；

剩余静校正量确定单元，用于选取所述第二分析层位预设时间间隔内各分析道的检测数据形成质子串，根据最小势能原理分析所述质子串得到转换波剩余静校正量，根据所述转换波剩余静校正量对检波点的检测数据进行静校正。

7.根据权利要求6所述的转换波剩余静校正系统，其特征在于，所述纵波分析层位确定单元具体用于在根据纵波共检波点检测数据形成的纵波叠加剖面上选取多段反映波形特征和能量特征的同相轴，对多段所述同相轴插值得到所述第一分析层位。

8.根据权利要求6所述的转换波剩余静校正系统，其特征在于，所述横波分析层位确定单元具体用于通过纵波和转换波速度比值将所述纵波叠加剖面转换为转换波叠加剖面，确定所述转换波叠加剖面上与所述第一分析层位对应的第二分析层位。

9.根据权利要求8所述的转换波剩余静校正系统，其特征在于，所述横波分析层位确定单元进一步用于通过所述第二分析层位对所述转换波叠加剖面进行层拉平。

10.根据权利要求6所述的转换波剩余静校正系统，其特征在于，所述剩余静校正量确定单元具体用于确定所述第二分析层位多个位置预设时间间隔内检测数据的振幅能量值得到多个位置的质子串，依次改变每个检测数据在时间方向上的位置形成与其他检测数据的引力形成目标函数，确定所述目标函数取得最大值时各检测数据的位置与预设时间间隔内的初始位置的差为转换波剩余静校正量。