[发明专利]深N阱电压动态控制电路在审
申请号: | 201911267296.2 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN111049506A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 杜翎;李昌红;吴霜毅 | 申请(专利权)人: | 成都铭科思微电子技术有限责任公司 |
主分类号: | H03K17/10 | 分类号: | H03K17/10;H03K17/567 |
代理公司: | 成都其高专利代理事务所(特殊普通合伙) 51244 | 代理人: | 贾波 |
地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电压 动态控制 电路 | ||
本发明公开了深N阱电压动态控制电路,包括PW电压选择电路和NMOS采样开关,还设置有电荷泵电路及DNW电压选择电路,所述NMOS采样开关的PW连接PW电压选择电路的输出、NMOS采样开关的DNW连接DNW电压选择电路的输出,PW电压选择电路的两个输入分别连接输入信号VIN和偏置电压VBULK,电荷泵电路的三个输入分别连接偏置电压VTOP、偏置电压VBOT和输入信号VIN,电荷泵电路的输出连接DNW电压选择电路的一个输入;DNW电压选择电路的另一个输入连接偏置电压VNS;根据NMOS采样开关工作状态,通过分时动态控制其DNW电压,有效降低了PW与DNW间寄生二极管的最大反偏电压,从而达到了提高输入信号电压范围的目的。
技术领域
本发明涉及半导体工艺应用技术等领域,具体的说,是深N阱电压动态控制电路。
背景技术
在信号采样电路中,通常采用DNW(深N阱)隔离NMOS管(N型金属氧化物半导体场效应晶体管)做采样开关。图1为DNW隔离NMOS管剖面图,图2为DNW隔离NMOS管对应的符号图,包含6个端口:D(漏极)、G(栅极)、S(源极)、PW(P阱)、DNW(深N阱)以及PSUB(P型衬底)。另外,还包含4个寄生二极管和4个PN结电容:PW与漏极形成的寄生二极管D1、PW与源极形成的寄生二极管D2、PSUB与DNW形成的寄生二极管D3、PW与DNW形成的寄生二极管D4,以及D1、D2、D3、D4的PN结电容,图1和图2中仅画出D4的PN结电容C0。
图3为传统NMOS采样开关电路,采用PW电压选择电路控制其PW电压。NMOS采样开关栅极连接驱动信号VG、源极连接输入信号VIN、漏极连接输出信号VOUT、DNW连接偏置电压VDNW、PSUB连接参考地GND、PW连接PW电压选择电路输出,PW电压选择电路两个输入分别连接VIN和偏置电压VBULK。上述偏置电压VDNW、VBULK均为固定偏置电压,参考地GND为0V。
当驱动信号VG为高电平时,NMOS采样开关导通进行信号采样,PW电压选择电路将VIN连接到PW,此时DNW与PW间压差ΔVDR=VDNW-VIN;为防止D3和D4正向导通,必须分别满足VDNW≥0和VDNW≥VINMAX(VINMAX为VIN最大值)。当驱动信号VG为低电平时,NMOS采样开关截止不进行信号采样,PW电压选择电路将VBULK连接到PW,此时DNW与PW间压差ΔVDR=VDNW-VBULK;为防止D2正向导通,必须满足VBULK≤VINMIN(VINMIN为VIN最小值);由于VDNW为固定偏置,所以VDNW≥VINMAX;为防止D3正向导通,VDNW必需满足VDNW≥0。因此,在NMOS采样开关进行信号采样和不进行信号采样时,VDNW均需满足VDNW≥0和VDNW≥VINMAX。通常情况下VINMAX≥0,所以D4最大反偏电压ΔVDRMAX必需满足ΔVDRMAX≥VINMAX-VINMIN。为防止D4反向击穿,必须满足ΔVDRMAX<VBRK(VBRK为D4反向击穿电压),即VINMAX-VINMIN<VBRK,则输入信号电压范围必须小于D4的反向击穿电压,这会极大的限制输入信号电压范围。例如,假设输入信号为幅度±VA正弦信号、VBULK=-VA、VDNW=VA,那么必须满足VDNW-VBULK=2VA<VBRK,即输入信号电压范围必须小于D4反向击穿电压。
PN结电容公式为:
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