[发明专利]多退化机理耦合的电磁继电器全寿命周期可靠性评估方法有效
申请号: | 201911267935.5 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN110941912B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 叶雪荣;陈昊;陈岑;翟国富 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F119/04 |
代理公司: | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人: | 高媛 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 退化 机理 耦合 电磁 继电器 寿命 周期 可靠性 评估 方法 | ||
1.多退化机理耦合的电磁继电器全寿命周期可靠性评估方法,其特征在于:所述评估方法包括以下步骤:
步骤一:根据对电磁继电器全寿命周期退化参数进行分析,确定电磁继电器在多场耦合作用工作过程中的退化参数;
步骤二:对电磁继电器工作过程中温度场分布工作剖面进行剖析,确定温度场分布作为表征时变参数的特征参数;
步骤三:针对特征参数以及退化参数搭建时变退化参数实验装置,实验获取不同工况不同工作状态下的退化参数数据,建立电磁继电器单参数退化模型;
步骤四:以电磁继电器动作次数和温度场分布参数为目录结合电磁继电器单参数退化模型,形成多元退化字典库;
步骤五:分析特征参数在电磁继电器中的传导路径,针对工作温度分布分析永磁电磁执行器工作过程中零部件的发热源,热量传播路径,据此建立温度场分布耦合计算模型;
步骤六:在温度场分布耦合计算模型的基础上,展开虚拟实验过程,计算当前多退化参数阶段的状态表征参数,然后将状态表征参数代入多元退化字典库,获取下一状态的退化参数,再将此时的状态表征参数当作当前状态计算状态参数,进而获取下一状态的退化参数,据此得到多退化耦合作用下的电磁继电器关键零部件和制造工序过程参数退化数据;
步骤七:在虚拟实验退化数据的基础上,建立耦合退化模型;
步骤八:将耦合退化模型代入到温度场分布耦合计算模型中,根据电磁继电器温度场分布的退化失效阈值计算得到电磁继电器的退化失效伪寿命Dl∈{D1,D2,…,Dk};
步骤九:对退化失效伪寿命的分布特征进行分析,通过拟合计算得到伪寿命分布类型的参数,在这里假定计算得到电磁继电器寿命分布的概率密度函数f(D),根据计算得到电磁继电器在工作次数为c时的可靠度,进而完成可靠性的评估。
2.根据权利要求1所述的多退化机理耦合的电磁继电器全寿命周期可靠性评估方法,其特征在于:所述步骤一中的退化参数记为Xde=(x1,x2,…,xn),其中n为退化参数的数目。
3.根据权利要求1所述的多退化机理耦合的电磁继电器全寿命周期可靠性评估方法,其特征在于:所述步骤三中的电磁继电器单参数退化模型与步骤七中的耦合退化模型,均是基于失效物理的退化参数或者基于退化数据的Wiener,Gamma随机建模方法建立的。
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