[发明专利]一种低温脱水进样装置有效
申请号: | 201911268016.X | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN112946051B | 公开(公告)日: | 2022-06-07 |
发明(设计)人: | 李海洋;李函蔚;花磊;李杨;蒋吉春 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大连化学物理研究所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N1/28;G01N1/42 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 郑伟健 |
地址: | 116023 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低温 脱水 装置 | ||
本发明涉及质谱分析仪器进样部分装置,具体的说是一种低温脱水进样装置。具体结构包括低温脱水总进样腔体、散热片和三极半导体制冷片。低温脱水总进样腔体为平板状结构,于上表面设流道,侧壁面上设有分别与流道二端相连的样品进口和样品出口,上方设有平板状上盖,四周边缘密闭连接。低温脱水进样腔体进口连接样品出样口,出口连接质谱分析仪器进样入口。本于上盖上表面和腔体下表面中部分别设有凹槽,二个三极半导体制冷片分别置于二个凹槽内。该新型低温脱水进样装置技术大大提高了质谱分析仪器进样部分用于进样采集时去除水的干扰影响,在环境监测、食品安全、医疗诊断等使用的分析仪器进样装置领域中具有广阔的应用前景。
技术领域
本发明涉及质谱分析仪器进样部分装置,具体的说是一种低温脱水进样装置。该新型低温脱水进样装置技术大大提高了质谱分析仪器进样部分用于进样采集时去除水的干扰影响,在环境监测、食品安全、医疗诊断等使用的分析仪器进样装置领域中具有广阔的应用前景。
背景技术
质谱分析仪器在分析化学中属于精密仪器,在分析化学中对样品物质进行分析需要质谱分析仪器具有较高的灵敏度以及分辨率才行,但是想要提高质谱分析仪器的灵敏度以及分辨率,不仅仅在其装配时使用较高精度的装配部件进行合理搭配,同时还需要对仪器的进样条件需要保持良好的样品前处理,以保障质谱分析仪器可以简单明了的分析样品中各个组分,确保质谱分析仪器的正常工作。但是样品中难免会存在一些杂质影响质谱分析仪器的检测结果,当中水汽的影响尤其严重,不仅会与样品分子进行解离是产生竞争电离,同时长时间使用会使仪器内部零部件表面产生水渍,影响对样品的分析检测,而且水汽是无处不在的,例如大气环境中。这也导致想要使样品不接触水汽是十分困难的一件事情。
因此,发展一种低温脱水进样装置具有十分重要的意义。
发明内容
本发明的目的在于提供一种低温脱水进样装置,包括低温脱水总进样腔体为一平板状结构,于平板状结构上表面设流道,于平板结构的侧壁面上设有分别与流道二端相连的样品进口和样品出口,于平板结构的上方设有平板状上盖,上盖下表面的四周边缘与腔体上表面流道的四周边缘密闭连接;
于上盖上表面和腔体下表面中部分别设有凹槽,二个三极半导体制冷片分别置于二个凹槽内,二个三极半导体制冷片的冷端分别与二个凹槽的底面相贴接;二个三极半导体制冷片的热端分别设有散热片。
所述三极半导体制冷片靠近冷端的一极半导体制冷片置于凹槽内,其余二极半导体制冷片位于凹槽外部。
所述三极半导体制冷片包括第一极半导体制冷片;于第一极半导体制冷片冷端的中部设有第二极半导体制冷片,第二极半导体制冷片的热端与第一极半导体制冷片冷端相贴接,且第二极半导体制冷片的热端表面面积小于第一极半导体制冷片冷端表面面积;于第二极半导体制冷片冷端的中部设有第三极半导体制冷片,第三极半导体制冷片的热端与第二极半导体制冷片冷端相贴接,且第三极半导体制冷片的热端表面面积小于第二极半导体制冷片冷端表面面积,形成三层阶梯状的三极半导体制冷片。
所述流道为蛇形流道。
上盖和低温脱水进样腔体紧固连接,于上盖正面四角上打有相同尺寸的螺钉通孔;于低温脱水进样腔体流道四周边缘处设有密封圈槽;低温脱水进样装置依次安装部件顺序是散热片分别与上盖和低温脱水进样腔体紧固连接内,其中间放置三极半导体制冷片部件,再次低温脱水进样腔体与上盖密封紧固连接。
散热片由依次排列等间距的散热翅片构成,散热片两端为散热风扇支撑板金,支撑板金两端分别打有与散热风扇上螺钉通孔相同尺寸的螺钉通孔,散热片四角上打有与上盖和低温脱水进样腔体上螺钉通孔相同尺寸的螺钉通孔,用于与上盖和低温脱水进样腔体紧固连接;所有装置均为平板结构,并且层叠放置。
散热片材料为导热性好的铝等金属装置;散热片内部有方形槽和边框板金用于卡紧三极半导体制冷片第一极半导体制冷片,三极半导体制冷片两条连接线分别从散热片侧壁面到方形槽之间开出的凹槽中引出。
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