[发明专利]一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法有效
申请号: | 201911269722.6 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN111076899B | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 孟晓辉;王永刚;李昂;栗孟娟;杨业;白云立;徐领娣;赵静;李文卿;王兆明;杜妍 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01M11/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 李晶尧 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 口径 球面 竖直 检测 自动 调整 方法 | ||
1.一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤一、将零位补偿器(1)轴向竖直放置,在零位补偿器(1)的外壁粘贴5个靶球(4);零位补偿器(1)绕轴线旋转;通过激光跟踪仪(6)拟合零位补偿器(1)的中心基准轴线(11);
步骤二、搭建非球面竖直检测系统;将待测反射镜(3)水平放置在调整台(5)的上表面;将折镜(2)放置在待测反射镜(3)的上方;将零位补偿器(1)水平放置,且零位补偿器(1)对准折镜(2);
步骤三、在待测反射镜(3)的顶部侧壁处粘贴6-8个靶球(4);通过激光跟踪仪(6)拟合待测反射镜(3)的环口基准面(31);
步骤四、在待测反射镜(3)的侧壁粘贴8-10个靶球(4);通过激光跟踪仪(6)拟合待测反射镜(3)的机械轴线(32);
步骤五、确定投影轴线O′M;所述投影轴线O′M的确定方法为:
中心基准轴线(11)与零位补偿器(1)镜头的交点记为O点;中心基准轴线(11)与折镜(2)镜面的交点记为M点;经过O点做折镜(2)的法线;法线与折镜(2)的交点记为N点;延长ON线,以N点为中心,在ON线上取O点的对称点O′点;连接O′点和M点,即为投影轴线O′M;
步骤六、通过调整台(5)调整待测反射镜(3),实现机械轴线(32)与投影轴线O′M重合,完成调整。
2.根据权利要求1所述的一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法,其特征在于:所述步骤一中,其中2个靶球(4)分别粘贴在零位补偿器(1)的轴向两端;其中1个靶球(4)粘贴在零位补偿器(1)的轴向中部侧壁上;另外2个靶球(4)粘贴在零位补偿器(1)的轴向两端的侧壁上。
3.根据权利要求2所述的一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法,其特征在于:所述步骤一中,通过激光跟踪仪(6)拟合零位补偿器(1)的中心基准轴线的具体方法为:
将激光跟踪仪(6)轴向水平放置在零位补偿器(1)的一侧;转动粘贴靶球(4)的零位补偿器(1);激光跟踪仪(6)扫描获得5个靶球(4)的水平圆周运动轨迹;获得5个圆周运动轨迹的中心点;对5个中心点进行直线拟合,获得零位补偿器(1)的中心基准轴。
4.根据权利要求3所述的一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法,其特征在于:所述步骤二中,折镜(2)与零位补偿器(1)中心基准轴线的夹角为45°;实现检测激光从零位补偿器(1)射出后经折镜(2)折射后到达待测反射镜(3)。
5.根据权利要求4所述的一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法,其特征在于:所述步骤三中,6-8个靶球(4)沿待测反射镜(3)的顶部侧壁周向均匀分布;激光跟踪仪(6)拟合待测反射镜(3)环口基准面(31)的方法为:通过激光跟踪仪(6)测量6-8个靶球(4)的相对位置信息,对6-8个靶球(4)的位置进行圆周拟合,得到环口基准面(31)。
6.根据权利要求5所述的一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法,其特征在于:所述步骤四中,8-10个靶球(4)沿待测反射镜(3)的轴向高度均不同;激光跟踪仪(6)拟合待测反射镜(3)的机械轴线(32)的方法为:
转动粘贴靶球(4)的待测反射镜(3);激光跟踪仪(6)扫描获得6-8个靶球(4)的水平圆周运动轨迹;获得6-8个圆周运动轨迹的中心点;对6-8个中心点进行直线拟合,获得待测反射镜(3)的机械轴线(32)。
7.根据权利要求6所述的一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法,其特征在于:所述靶球(4)的直径为0.5英寸。
8.根据权利要求7所述的一种高精度大口径非球面竖直面形检测自动调整方法,其特征在于:所述调整台(5)实现六自由度调整;平移运动时,精度优于1μm;旋转时,角度误差为1″。
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