[发明专利]一种用于模拟量校准的校准函数关系获取方法及装置在审

专利信息
申请号: 201911277745.1 申请日: 2019-12-10
公开(公告)号: CN110968833A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 刘涛 申请(专利权)人: 上海艾临科智能科技有限公司
主分类号: G06F17/15 分类号: G06F17/15;G06F17/12;G06F17/18;G01R35/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 李飞
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 模拟 校准 函数 关系 获取 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于模拟量校准的校准函数关系获取方法,其特征在于,包括:

获取待校准模拟量的检测数据,并根据预设的采样次数,对所述检测数据进行多次采样,得到多个模拟量采样向量;

根据预设的校准标准向量,对每个所述模拟量采样向量进行线性拟合,得到与每个所述模拟量采样向量对应的函数关系;

根据所述校准标准向量、多个所述模拟量采样向量以及所述函数关系,计算每个所述模拟量采样向量对应的拟合偏差值;

根据所述拟合偏差值和所述函数关系确定所述待校准模拟量的校准函数关系。

2.根据权利要求1所述的用于模拟量校准的校准函数关系获取方法,其特征在于,所述根据预设的采样次数,对所述检测数据进行多次采样,得到多个模拟量采样向量,包括:

根据预设的采样次数,对所述检测数据进行多次采样,得到多个初始采样向量;

对所述多个初始采样向量进行采样平均处理,得到多个模拟量采样向量。

3.根据权利要求1所述的用于模拟量校准的校准函数关系获取方法,其特征在于,根据预设的校准标准向量,对每个所述模拟量采样向量进行线性拟合,得到与每个所述模拟量采样向量对应的函数关系,包括:

获取用于校准所述待校准模拟量的校准标准向量;

根据最小二乘法和所述校准标准向量,对每个所述模拟量采样向量进行线性拟合,得到与每个所述模拟量采样向量对应的函数关系。

4.根据权利要求1所述的用于模拟量校准的校准函数关系获取方法,其特征在于,根据所述校准标准向量、多个所述模拟量采样向量以及所述函数关系,计算每个所述模拟量采样向量对应的拟合偏差值,包括:

将每个所述模拟量采样向量代入该模拟量采样向量对应的函数关系中,得到每个所述模拟量采样向量对应的拟合向量;

对每个所述模拟量采样向量对应的所述拟合向量与所述校准标准向量之间的均方误差值进行计算,得到每个所述模拟量采样向量对应的拟合偏差值。

5.根据权利要求1所述的用于模拟量校准的校准函数关系获取方法,其特征在于,根据所述拟合偏差值和所述函数关系确定所述待校准模拟量的校准函数关系,包括:

从多个所述模拟量采样向量中确定出最小的拟合偏差值对应的模拟量采样向量,作为目标模拟量采样向量;

将所述目标模拟量采样向量对应的函数关系,确定为所述待校准模拟量的校准函数关系。

6.一种用于模拟量校准的校准函数关系获取装置,其特征在于,包括:

获取单元,用于获取待校准模拟量的检测数据;

采样单元,用于根据预设的采样次数,对所述检测数据进行多次采样,得到多个模拟量采样向量;

拟合单元,用于根据预设的校准标准向量,对每个所述模拟量采样向量进行线性拟合,得到与每个所述模拟量采样向量对应的函数关系;

计算单元,用于根据所述校准标准向量、多个所述模拟量采样向量以及所述函数关系,计算每个所述模拟量采样向量对应的拟合偏差值;

确定单元,用于根据所述拟合偏差值和所述函数关系确定所述待校准模拟量的校准函数关系。

7.根据权利要求6所述的用于模拟量校准的校准函数关系获取装置,其特征在于,所述采样单元包括:

采样子单元,用于根据预设的采样次数,对所述检测数据进行多次采样,得到多个初始采样向量;

处理子单元,用于对所述多个初始采样向量进行采样平均处理,得到多个模拟量采样向量。

8.根据权利要求6所述的用于模拟量校准的校准函数关系获取装置,其特征在于,所述拟合单元包括:

获取子单元,用于获取用于校准所述待校准模拟量的校准标准向量;

拟合子单元,用于根据最小二乘法和所述校准标准向量,对每个所述模拟量采样向量进行线性拟合,得到与每个所述模拟量采样向量对应的函数关系。

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