[发明专利]用于超高温老化测试的光功率监测单元及光功率监测装置

权利要求书

1.一种用于超高温老化测试的光功率监测单元，其特征在于：包括加热金属块、半导体发光芯片、准直器和光电传感器；所述半导体发光芯片设置在加热金属块上方，并且在通电时能发出发散的光，所述准直器设置在所述发散的光的传输路径中，将发散的光变成准直或近准直光束，所述光电传感器接收经过一定行程之后的准直光束，检测到所监测的半导体发光芯片的光功率。

2.根据权利要求1所述的用于超高温老化测试的光功率监测单元，其特征在于：所述准直或近准直光束的传输路径内设有一个或多个反射镜，经反射镜反射的准直光束传输到所述光电二极管。

3.根据权利要求1所述的用于超高温老化测试的光功率监测单元，其特征在于：所述准直器为准直或近准直透镜。

4.根据权利要求1所述的用于超高温老化测试的光功率监测单元，其特征在于：所述光电传感器为光电二极管。

5.根据权利要求1所述的用于超高温老化测试的光功率监测单元，其特征在于：所述准直光束的传输路径内设有可移动光学元件插入板，所述光学元件插入板上设有至少一个元件孔，所述元件孔内设有光衰减器、线性透射率滤波器或线性偏振器。

6.根据权利要求5所述的用于超高温老化测试的光功率监测单元，其特征在于：所述光学元件插入板上还设有通孔，所述准直光束通过该通孔入射到所述光电传感器上。

7.根据权利要求5所述的用于超高温老化测试的光功率监测单元，其特征在于：还包括光学元件移动结构，所述光学元件移动结构包括线性执行器，所述线性执行器带动光学元件插入板线性运动。

8.根据权利要求7所述的用于超高温老化测试的光功率监测单元，其特征在于：所述光学元件移动结构还包括位置传感器，所述位置传感器根据实时位置进行闭环反馈，控制准直光束对准光学元件插入板上的光衰减器、线性透射率滤波器或线性偏振器。

9.一种用于超高温老化测试的光功率监测装置，其特征在于：包括呈阵列排布的光功率监测单元，所述光功率监测单元为权利要求1或2所述的光功率监测单元。

10.根据权利要求9所述的用于超高温老化测试的光功率监测装置，其特征在于：该光功率监测装置还包括光学元件插入板和光学元件移动结构，所述光学元件移动结构包括线性执行器和位置传感器，所述光学元件插入板设置在准直光束的传输路径内，且光学元件插入板上阵列排布有与光功率监测单元相对应的元件孔组，每组元件孔组包括至少一个通孔和一个元件孔，元件孔内安装光衰减器、线性透射率滤波器或者线性偏振器，所述线性执行器以推或拉的方式带动光学元件插入板相对运动，并由所述位置传感器根据实时位置进行闭环反馈，控制准直光束按照需求对准光学元件插入板上的通孔或者元件孔。