[发明专利]一种拼接镜中边缘子镜的波前检测装置和方法有效

专利信息
申请号: 201911280851.5 申请日: 2019-12-13
公开(公告)号: CN111006851B 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 罗倩;吴时彬;汪利华;杨伟;范斌 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 拼接 边缘 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种拼接镜中边缘子镜的波前检测方法,利用拼接镜中边缘子镜的波前检测装置,组合使用干涉仪和激光跟踪仪,采用计算全息片补偿像差检测拼接镜中边缘子镜的波前:该装置包括高精度平面反射镜(101)、升降架(102)、被测边缘子镜(103)、倾斜调整装置(104)、计算全息片(105)、小五维调整台(106)、透射标准镜头(107)、干涉仪(108)、隔振平台(109)、五维调整台(110)、激光跟踪仪(111)、靶球(112);利用激光跟踪仪建立干涉仪、被测边缘子镜和平面反射镜(101)的空间坐标系,放入计算全息片对准干涉仪,将干涉仪与计算全息片作为一个整体,精调整体的俯仰和倾斜,形成自准直光路,调整直至干涉仪波前检测结果中像差项为最小,即为被测边缘子镜的波前检测结果,干涉仪(108)中发出的光线穿过透射标准镜头(107)、计算全息片(105)、被测边缘子镜(103),并在高精度平面反射镜(101)的表面反射,然后再回到干涉仪(108)与参考光干涉;干涉仪(108)的透射标准镜头(107)的焦点与计算全息片(105)的焦点重合,建立以被测边缘子镜(103)有效孔径中心为空间坐标原点的空间坐标系后,激光跟踪仪(111)的靶球(112)放到某一个位置即可获得该位置的空间坐标,利用靶球(112)的空间坐标可调整被测边缘子镜(103)和高精度平面反射镜(101)平行,以及将干涉仪(108)出射焦点调整至空间坐标系理论位置,其特征在于:该方法的步骤如下:

步骤一:将被测边缘子镜(103)按照在拼接镜中的空间位置,装入机械调整框中,利用激光跟踪仪,标定被测边缘子镜(103)有效孔径中心与机械调整框的相对位置及夹角;

步骤二:在被测边缘子镜(103)后面放置与被测边缘子镜口径相当的高精度平面反射镜(101)与其大致平行,利用激光跟踪仪(111)的靶球(112),标定高精度平面反射镜(101)的位置,调节被测边缘子镜(103)的倾斜调整装置(104),将被测边缘子镜(103)和高精度平面反射镜(101)调整平行;

步骤三:以被测边缘子镜(103)的有效孔径中心、高精度平面反射镜(101)法向及被测边缘子镜离轴方向建立空间坐标系,利用步骤一中被测边缘子镜(103)有效孔径中心与机械调整框的相对位置,设置被测边缘子镜(103)有效孔径中心为空间坐标原点;

步骤四:选择透射标准镜头(107),并装夹至干涉仪(108)上,放置干涉仪(108),利用激光跟踪仪(111)的靶球(112)位置,将干涉仪(108)出射焦点调整至空间坐标系理论位置;

步骤五:在理论位置装上计算全息片(105),调整计算全息片(105)的对准全息对准干涉仪(108);

步骤六:将干涉仪(108)与计算全息片(105)作为一个整体,精调干涉仪(108)与计算全息片(105)整体的俯仰和倾斜,使其光轴与被测边缘子镜(103)的光轴平行,入射至被测边缘子镜(103)的光线经高精度平面反射镜(101)反射后沿原路返回,即形成自准直光路,干涉仪(108)出现干涉条纹;

步骤七:继续调整干涉仪(108)与计算全息片(105)整体的倾斜和俯仰,直至干涉仪(108)波前检测结果中像差项为最小,即为被测边缘子镜(103)的波前检测结果。

2.根据权利要求1所述的一种拼接镜中边缘子镜的波前检测方法,其特征在于:所述的计算全息片(105)的对准全息用于对准计算全息片(105)与干涉仪(108)的相对位置,测试全息用于补偿像差检测拼接镜中边缘子镜的波前。

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