[发明专利]滚转角测量方法及装置有效
申请号: | 201911284309.7 | 申请日: | 2019-12-13 |
公开(公告)号: | CN111024001B | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 吴思进;李欣;李伟仙 | 申请(专利权)人: | 北京信息科技大学 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转角 测量方法 装置 | ||
1.一种滚转角测量方法,其特征在于,包括:
采用剪切散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位变化,其中,所述相位变化中包括物面上任一点由物面滚转所引起的相位变化,所述相位变化是滚转角的函数;
根据所述物面滚转所引起的相位变化,确定所述物面的滚转角;
采用剪切散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位变化,包括:
在所述物面滚转的过程中,采用所述剪切散斑干涉法测量所述物面在预设时长内的相位分布信息;
根据所述物面在所述预设时长内的相位分布信息,确定所述物面上的目标观测点在所述预设时长内由所述物面滚转所引起的相位变化。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,采用剪切散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位变化,包括:
在所述物面滚转前,采用所述剪切散斑干涉法测量所述物面的第一相位分布信息;
在所述物面滚转后,采用所述剪切散斑干涉法测量所述物面的第二相位分布信息;
根据所述第一相位分布信息和所述第二相位分布信息,确定所述物面滚转所引起的相位变化。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述物面滚转所引起的相位变化,确定所述物面的滚转角,包括:
根据所述物面滚转所引起的相位变化,确定所述物面滚转所引起的物面形变在剪切方向的空间梯度;
根据所述物面滚转所引起的物面形变在剪切方向的空间梯度,确定所述物面的滚转角。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述物面滚转所引起的相位变化,确定所述物面的滚转角,包括:
根据所述目标观测点在所述预设时长内由所述物面滚转所引起的相位变化,确定所述物面在所述预设时长内各个测量时刻的滚转角。
5.一种滚转角测量装置,其特征在于,包括:
剪切散斑干涉测量模块,用于采用剪切散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位变化,其中,所述相位变化中包括物面上任一点由物面滚转所引起的相位变化,所述相位变化是滚转角的函数;
滚转角测量模块,用于根据所述物面滚转所引起的相位变化,确定所述物面的滚转角;
所述剪切散斑干涉测量模块,包括:
第三测量子模块,用于在所述物面滚转的过程中,采用所述剪切散斑干涉法测量所述物面在预设时长内的相位分布信息;
第二确定子模块,用于根据所述物面在所述预设时长内的相位分布信息,确定所述物面上的目标观测点在所述预设时长内由所述物面滚转所引起的相位变化。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述剪切散斑干涉测量模块,包括:
第一测量子模块,用于在所述物面滚转前,采用所述剪切散斑干涉法测量所述物面的第一相位分布信息;
第二测量子模块,用于在所述物面滚转后,采用所述剪切散斑干涉法测量所述物面的第二相位分布信息;
第一确定子模块,用于根据所述第一相位分布信息和所述第二相位分布信息,确定所述物面滚转所引起的相位变化。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述滚转角测量模块具体用于:
根据所述物面滚转所引起的相位变化,确定所述物面滚转所引起的物面形变在剪切方向的空间梯度;
根据所述物面滚转所引起的物面形变在剪切方向的空间梯度,确定所述物面的滚转角。
8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述滚转角测量模块具体用于:
根据所述目标观测点在所述预设时长内由所述物面滚转所引起的相位变化,确定所述物面在所述预设时长内各个测量时刻的滚转角。
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