[发明专利]TD-LTE上行干扰定位方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201911285052.7 申请日: 2019-12-13
公开(公告)号: CN112996022A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 李铁钧;吴忠;杨中华;温洪军 申请(专利权)人: 上海大唐移动通信设备有限公司
主分类号: H04W24/04 分类号: H04W24/04;H04W24/08;H04W72/04;H04W72/08
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 苗晓静
地址: 200233 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: td lte 上行 干扰 定位 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种TD-LTE上行干扰定位方法,其特征在于,包括:

获取至少一类子帧中各子帧对应的干扰信息,所述干扰信息包括子帧中物理资源块PRB的干扰噪声;

根据所述干扰信息,分别确定每一类子帧中各子帧对应的子帧波形;

根据各子帧对应的子帧波形,确定基站的上行干扰类型;

其中,所述至少一类子帧包括特殊子帧和上行业务子帧;所述上行干扰类型包括远端干扰、全球定位系统GPS跑偏干扰、网内干扰、外部设备干扰和基站设备问题。

2.根据权利要求1所述的TD-LTE上行干扰定位方法,其特征在于,所述根据各子帧对应的子帧波形,确定基站的上行干扰类型,包括:

根据第一类子帧中各子帧对应的子帧波形,判断所述第一类子帧中各子帧是否受到干扰,并根据第二类子帧中各子帧对应的子帧波形,判断所述第二类子帧中各子帧是否受到干扰;

若所述第一类子帧中存在子帧受到干扰,所述第二类子帧中各子帧未受到干扰,且干扰符合第一判断条件,则所述上行干扰类型为远端干扰;

若所述第一类子帧中各子帧未受到干扰,所述第二类子帧存在子帧受到干扰,且干扰符合第二判断条件,则所述上行干扰类型为网内干扰;

其中,所述第一类子帧为特殊子帧,所述第二类子帧为上行业务子帧;所述第一判断条件包括干扰为全频段干扰,且干扰受时段和地域影响;所述第二判断条件包括干扰受时段影响,且所述第一类子帧和所述第二类子帧对应的子帧波形的变化不一致。

3.根据权利要求2所述的TD-LTE上行干扰定位方法,其特征在于,还包括:

若所述第一类子帧中存在子帧受到干扰,且所述第二类子帧中存在子帧受到干扰,则判断所述第一类子帧中各子帧对应的子帧波形中,前预设个数PRB的干扰噪声是否均低于剩余PRB的干扰噪声;

若所述第一类子帧中各子帧对应的子帧波形中,前预设个数PRB的干扰噪声均低于剩余PRB的干扰噪声,且满足所述第二判断条件,则所述上行干扰类型为网内干扰;

其中,剩余PRB为子帧波形中前预设个数PRB之后的PRB。

4.根据权利要求2所述的TD-LTE上行干扰定位方法,其特征在于,还包括:

若所述第一类子帧中存在子帧受到干扰,且所述第二类子帧中存在子帧受到干扰,则根据对多个区域的基站所确定的,第一类子帧对应的子帧波形和/或第二类子帧对应的子帧波形,判断干扰是否受地域影响,若是,则确定受干扰最强的区域;

判断关闭受干扰最强的区域对应的基站后,干扰是否消失,若是且满足第三判断条件,则所述上行干扰类型为GPS跑偏干扰,否则,所述上行干扰类型为外部设备干扰;

其中,所述第三判断条件包括干扰为全频段干扰,干扰不受时段影响。

5.根据权利要求2所述的TD-LTE上行干扰定位方法,其特征在于,还包括:

若所述第一类子帧中存在子帧受到干扰,且所述第二类子帧中存在子帧受到干扰,则判断所述第一类子帧和所述第二类子帧对应的子帧波形变化是否一致;

若所述第一类子帧和所述第二类子帧对应的子帧波形变化一致,且满足第四判断条件,则所述上行干扰类型为外部设备干扰;

若所述第一类子帧和所述第二类子帧对应的子帧波形变化不一致,则所述上行干扰类型为基站设备问题;

其中,所述第四判断条件包括干扰持续存在或规律性存在。

6.根据权利要求5所述的TD-LTE上行干扰定位方法,其特征在于,还包括:

若所述上行干扰类型为基站设备问题,则操作维护中心OMC的告警排查基站设备问题,或者对预设检查项目进行检查,以排查基站设备问题;

其中,所述预设检查项目包括如下检查项目中的至少一种:射频拉远单元RRU、基带处理单元BBU、光功率、光误码、通道故障、天馈系统、馈线。

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