[发明专利]一种多孔Ta3 在审
申请号: | 201911285378.X | 申请日: | 2019-12-13 |
公开(公告)号: | CN111020692A | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 谢奎;金路 | 申请(专利权)人: | 中国科学院福建物质结构研究所 |
主分类号: | C30B25/02 | 分类号: | C30B25/02;C30B25/18;C30B25/16;C30B29/38;C30B29/64;C30B29/60 |
代理公司: | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 | 代理人: | 张莹;周游 |
地址: | 350002 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多孔 ta base sub | ||
1.一种多孔Ta3N5单晶材料,其特征在于,所述多孔Ta3N5单晶材料中含有10nm~1000nm的孔;
所述多孔Ta3N5单晶材料的表面为多孔Ta3N5单晶的(002)面、(023)面、(041)面中的至少一面。
2.根据权利要求1所述的多孔Ta3N5单晶材料,其特征在于,所述多孔Ta3N5单晶材料中含有10nm~500nm的孔;
可选地,所述多孔Ta3N5单晶材料中含有50nm~100nm的孔。
3.根据权利要求1所述的多孔Ta3N5单晶材料,其特征在于,所述多孔Ta3N5单晶材料为多孔Ta3N5单晶薄膜和/或多孔Ta3N5单晶晶体。
4.根据权利要求3所述的多孔Ta3N5单晶材料,其特征在于,所述多孔Ta3N5单晶薄膜的厚度为10nm~500μm;
优选地,所述多孔Ta3N5单晶薄膜的厚度为10nm~50μm。
5.根据权利要求3所述的多孔Ta3N5单晶材料,其特征在于,所述多孔Ta3N5单晶晶体的尺寸为0.1cm~30cm;
优选地,所述多孔Ta3N5单晶晶体的尺寸为0.5cm~5cm。
6.权利要求1至5任一项所述的多孔Ta3N5单晶材料的制备方法,其特征在于,至少包括:
将钽源与含有氨气的原料气接触反应,得到所述多孔Ta3N5单晶材料;
其中,所述钽源选自含钽单晶材料中的至少一种;
所述反应的温度为873K~1273K;
所述反应的升温速率为5~30℃/min;
所述反应的压力为1Torr~900Torr;
所述反应的时间为1min~500h;
优选地,所述反应的温度为1073K~1273K;
所述反应的升温速率为10~20℃/min;
所述反应的压力为50Torr~300Torr;
所述反应的时间为5min~300h。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述含有氨气的原料气中包括氨气和氮气、氩气、氢气中的至少一种;
其中,氨气的流量记为a,氮气的流量记为b,氩气的流量记为c,氢气的流量记为d,满足:
0.05SLM≤a≤100SLM;
0SLM≤b≤100SLM;
0SLM≤c≤100SLM;
0SLM≤d≤100SLM;
优选地,
0.3SLM≤a≤1SLM;
0.05SLM≤b≤1SLM;
0.05SLM≤c≤1SLM;
0.05SLM≤d≤0.5SLM;
优选地,所述含有氨气的原料气由第一气体和第二气体组成;
所述第一气体为氨气;所述第二气体选自氮气、氩气、氢气中的至少一种。
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