[发明专利]视觉检查装置及其驱动方法

说明书

本申请涉及视觉检查装置及驱动视觉检查装置的方法，视觉检查装置包括：检查控制器，其在显示面板上显示具有多个灰阶的栅格图案；成像转换器，其以预定或设置的曝光时间驱动电荷耦合器件，并且将显示在显示面板上的栅格图案转换为栅格图案信号；电荷计算器，其使用包括在栅格图案信号中的参考灰阶信号和设置的曝光时间计算参考灰阶的每种颜色的每单位时间的电荷量；以及曝光时间计算器，其基于参考灰阶的目标电荷量计算参考灰阶的每种颜色的最佳曝光时间。

技术领域

技术领域涉及用于显示面板的缺陷检查的检查装置以及用于驱动检查装置的方法。

背景技术

通常，用于液晶显示器的显示面板(例如，显示单元)包括下基板、面对下基板的上基板以及插置在下基板和上基板之间的液晶层。下基板具有像素区域和外围区域，用于驱动像素区域的驱动信号施加到外围区域。

像素区域包括在第一方向上延伸的数据线和在第二方向上延伸并且与数据线交叉的栅极线以及连接到栅极线和数据线的像素电极。外围区域包括第一驱动芯片焊盘和第二驱动芯片焊盘，在第一驱动芯片焊盘上安装有用于提供数据信号的驱动芯片，在第二驱动芯片焊盘上安装有用于提供栅极信号的驱动芯片。

在执行液晶注入工艺之后，显示面板执行用于检测电操作状态和光学操作状态的视觉检查工艺。视觉检查工艺包括用于校正显示面板的色差(mura)(例如，色差效应)的色差校正工艺。

视觉检查工艺通常通过工业CCD(电荷耦合器件)相机将显示在显示面板上的参考灰阶(例如，参考灰度或灰度级的灰阶)转换为电信号。CCD相机将暴露于电荷耦合器件的参考灰阶转换为电信号。视觉检查工艺使用参考灰阶信号计算用于校正显示面板的诸如色差的视觉缺陷的校正值。

近来，由于因高分辨率显示器而导致的工艺分散(或制造差异)以及以降低的成本制造的像素结构，在低灰阶区域中亮度散射相对大。因此，电荷耦合器件的电荷量相对于相同的曝光时间而变化。例如，当电荷耦合器件的电荷量不足时会发生诸如色差的显示缺陷，并且当电荷耦合器件的电荷量过多时会发生饱和缺陷。

发明内容

本发明构思的实施方式的各方面针对一种用于根据显示面板获得合适的检查信号的视觉检查装置(例如，视觉缺陷或弯曲缺陷检查装置)。

本发明构思的实施方式的各方面针对一种驱动视觉检查装置的方法。

根据本发明构思的实施方式，提供了一种视觉检查装置，包括：检查控制器，其在显示面板上显示具有多个灰阶的栅格图案；成像转换器，其以预定或设置的曝光时间驱动电荷耦合器件，并且将显示在显示面板上的栅格图案转换为栅格图案信号；电荷计算器，其使用包括在栅格图案信号中的参考灰阶信号和设置的曝光时间计算参考灰阶的每种颜色的每单位时间的电荷量；以及曝光时间计算器，其基于参考灰阶的目标电荷量计算参考灰阶的每种颜色的最佳曝光时间。

在实施方式中，多个灰阶可以包括低灰阶和全灰阶。

在实施方式中，当在显示面板上显示参考灰阶时，电荷耦合器件可以配置为基于小于阈值曝光时间的参考灰阶的每种颜色的最佳曝光时间被驱动。

在实施方式中，当在显示面板上显示参考灰阶时，电荷耦合器件可以配置为基于小于阈值曝光时间的参考灰阶的绿色最佳曝光时间被驱动。

在实施方式中，检查控制器可以配置为使用栅格图案确定显示面板的显示区域。

在实施方式中，视觉检查装置还可以包括：三刺激值计算器，其使用包括在栅格图案信号中的全灰阶颜色信号计算全灰阶的颜色三刺激值，并且使用包括在栅格图案信号中的参考灰阶信号计算参考灰阶的三刺激值；以及颜色亮度值计算器，其使用全灰阶的颜色三刺激值和参考灰阶的三刺激值，计算参考灰阶的每种颜色的亮度值。

在实施方式中，电荷计算器可以配置为使用参考灰阶的每种颜色的亮度值和设置的曝光时间计算参考灰阶的每种颜色的每单位时间的电荷量。