[发明专利]固态硬盘测试系统

说明书

本申请涉及一种固态硬盘测试系统，当需要对固态硬盘进行测试时，通过主控台计算机控制高低温测试箱处于对应的温度环境，然后向测试计算机发送测试指令，测试计算机即可以对处于高低温测试箱中的固态硬盘进行自动化测试操作。同时，测试计算机还会将实时测试结果以及测试日志回传至主控台计算机，测试人员通过主控台计算机即可以直观观测得到。通过上述方案，整个测试操作通过测试计算机以及主控台计算机实现，测试人员只需要通过主控台计算机发送测试指令，即可以自动实现固态硬盘的测试操作，并且将测试得到的测试结果以及测试日志进行记录、存储。该方案无需工作人员值守，有效地节约人力以及测试循环时间，具有测试可靠性强的优点。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种固态硬盘测试系统。

背景技术

固态硬盘(Solid State Disk，SSD)即固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，SSD由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。固态硬盘在接口的规范和定义、功能及使用方法上与普通硬盘的完全相同，在产品外形和尺寸上也完全与普通硬盘一致。被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、医疗、航空、导航设备等诸多领域。为了保证固态硬盘在使用过程中的各项功能正常，对固态硬盘进行测试显得尤为重要。

传统的固态硬盘测试以全人工手动操作，相同动作多次重复，即耗费太多的人力成本，影响测试的一致性。同时固态硬盘测试的测试信息复杂，记录测试信息消耗太多人力成本，并且纸档记录不利于保存，使得固态硬盘一个测试循环的额外时间过长，影响测试效能及后续记录查询。因此，传统的固态硬盘测试方法存在测试可靠性差的缺点。

发明内容

基于此，有必要针对传统的固态硬盘测试方法测试可靠性差的问题，提供一种固态硬盘测试系统。

一种固态硬盘测试系统，所述系统包括：主控台计算机、测试计算机、高低温测试箱和固态硬盘，所述固态硬盘放置于所述高低温测试箱，所述主控台计算机通过以太网连接所述测试计算机，所述测试计算机连接所述固态硬盘，所述主控台计算机连接所述高低温测试箱，所述主控台计算机用于向所述测试计算机发送测试指令和向所述高低温箱发送温度调节指令，以及接收所述测试计算机发送的测试结果和测试日志并存储；所述测试计算机用于根据所述测试指令、预设测试参数和预设测试程序对所述固态硬盘进行测试，并将测试得到的测试结果和测试日志回传至所述主控台计算机；所述高低测试箱用于根据所述温度调节指令为固态硬盘测试提供对应的温度环境。

在一个实施例中，所述高低温测试箱的测试仓设置有控制板、转接板和宽温连接器，所述测试计算机连接所述控制板，所述控制板连接所述转接板，所述转接板通过所述宽温连接器连接所述固态硬盘。

在一个实施例中，所述宽温连接器为SATA连接器。

在一个实施例中，所述转接板设置有5个转接口，各所述转接口分别通过所述宽温连接器连接一所述固态硬盘。

在一个实施例中，所述主控台计算机的数量为1台，所述测试计算机的数量为24台。

在一个实施例中，所述主控台计算机与所述高低温箱通过RS-485串口或RS-232串口通信连接。

在一个实施例中，所述测试计算机对所述固态硬盘进行测试时的测试项目包括通断电测试、读写老化测试、全盘扇区扫描测试和ATA协议测试中的至少一种。

在一个实施例中，所述通断电测试、所述读写老化测试和所述全盘扇区扫描测试均将SMART参数加入测试操作。

在一个实施例中，所述通断电测试和所述读写老化测试的测试循环次数为两次或两次以上，所述全盘扇区扫描测试的测试循环次数为一次。

在一个实施例中，所述测试计算机为磁盘操作系统类型的计算机。