[发明专利]一种OLED模型参数提取的方法

权利要求书

1.一种OLED模型参数提取方法，其特征在于，包括以下步骤：

1）建立参数提取模型；

2）确认参数类型和初始值；

3）建立反映测量值和仿真值差值的误差函数；

4）采用L-M法和单纯形法进行优化求解，

所述步骤1）进一步包括，分别建立电流-电压参数提取模型和电容-电压参数提取模型，

所述电流-电压模型参数包括，饱和电流密度，发射系数，二极管串联电阻值，电流串联电阻，漏电阻，电流电压源，

所述电容-电压模型参数包括，电容，电容参数，梯度系数，二极管内接触电势，电容串联电阻，电容电压源，

所述电流-电压提取模型，进一步包括，所述电流串联电阻与OLED器件串联，所述漏电阻与所述OLED器件和所述电流串联电阻并联，所述电流电压源与总电流电路串联，

所述电容-电压提取模型，进一步包括，所述电容串联电阻和所述电容电压源与OLED器件串联，所述电容与总电容电路并联，

所述步骤3）进一步包括，将每一个点对应电压的测量值和仿真值相减，得到的差值向量f，误差函数为F=0.5*（f^T*f），其中，T为f的转置。

2.根据权利要求1所述的OLED模型参数提取方法，其特征在于，对所述电流-电压模型进行调试，包括以下步骤：

1）将电流-电压测量值数据根据电压的正负数值分为两部分；

2）建立调试的误差函数：先对电流仿真值和测量值对数化，然后取对数化后的电流数据的差值向量f，误差函数为F=0.5*(f^T*f)来作为误差函数；

3）在v0的区域进行Js，N，Rs，r1iv，viv五个参数的调试：

a.选取所要调参的数据范围v0；

b.将五个参数名和其对应的初始值和区间输入L-M优化函数中；

c.满足迭代终止条件后，得到输出的参数值；

4）在v0的区域进行r2iv的调试：

a.选取所要调参的数据范围v0；

b.将参数名和对应的初始值和区间输入至L-M优化函数中；

c.满足迭代条件后，得到输出的参数值。

3.根据权利要求1所述的OLED模型参数提取方法，其特征在于，对所述电流-电压模型进行调试，包括以下步骤：

1）取电容的测量值和仿真值的差值向量为f，误差函数为F=0.5*(f^T*f)；

2）在二极管未导通的区域应用L-M法进行Cg参数的调试：

a.选取所要调参的数据范围v0；

b.将参数名和其对应的初始值和区间输入L-M优化函数中；

c.满足迭代终止条件后，得到输出的参数值；

3）在二极管导通的区域应用单纯形法进行Cj，Mj，PB，r1cv，vcv五个参数的调试：

a.选取所要调参的数据范围v0；

b.将五个参数名和其对应的初始值和区间输入单纯形法优化函数中；

c.满足迭代终止条件后，得到输出的参数值。

4.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令运行时执行权利要求1至3任一项所述的OLED模型参数提取方法步骤。

5.一种OLED模型参数提取装置，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1至3任一项所述的OLED模型参数提取方法步骤。