[发明专利]一种电解电容极性检测方法及检测系统

说明书

本发明提供一种电解电容极性检测方法，属于电子元器件检测技术领域。本发明电解电容极性检测方法包括如下步骤：以标有极性标志的顶部图像中心为原点，建立圆形极坐标系；按照0‑360度角度的顺序，遍历极径上的像素；根据极径上的像素获取极性标志所在的圆环的边界所在位置，获取该位置的圆环灰度；根据各个角度的圆环灰度，获取360个圆环所在位置的灰度，根据所有的圆环灰度值获取极性标志位置。本发明还提供一种实现所述电解电容极性检测方法的检测系统。本发明的有益效果为：具有很强的容错性，针对低分辨率，小尺寸的电解电容也能很快的定位电容极性标志位置。

技术领域

本发明涉及一种电容检测方法，尤其涉及一种电解电容极性检测方法及检测系统。

背景技术

当前基于视觉的电容极性检测算法通常基于极性标志的模板匹配算法，方法描述如下：

1. 制作极性标志的模板图像；

2. 在电容图像中可能出现极性标志的小范围区域进行搜索；

3. 当搜索到的图像匹配分数大于设定的阈值，则认为在该区域找到极性标志，则认为电容极性正确，否则认为电容极性错误。

现有技术存在如下缺陷：

1. 针对低分辨率，小尺寸电解电容的极性检测往往不能达到理想的效果，存在较高的误报率和漏报率；

2. 较难选择模板匹配合适的阈值；

3. 不能准确得出电容极性的角度位置；

4. 针对电容倾斜的情况不能很好的识别；

5. 电容顶部的印刷字符会对识别造成干扰。

发明内容

为解决现有技术中的问题，本发明提供一种电解电容极性检测方法及检测系统。

本发明电解电容极性检测方法包括如下步骤：

S1：以标有极性标志的顶部图像中心为原点，建立圆形极坐标系；

S2：按照0-360度角度的顺序，遍历极径上的像素；

S3：根据极径上的像素获取极性标志所在的圆环的边界所在位置，获取该位置的圆环灰度；

S4：根据各个角度的圆环灰度，获取360个圆环所在位置的灰度，根据所有的圆环灰度值获取极性标志位置。

本发明作进一步改进，步骤S2中，将圆形极坐标系的极坐标转化为直角坐标获取各个像素，其中，圆形极坐标系到直角坐标系的转换公式为：

圆形极坐标系下的点的灰度为。

本发明作进一步改进，步骤S3中，边界所在位置的获取方法为：计算在极径方向上相隔N个像素的灰度差，得出每个极径方向上的最大灰度差，该位置即为圆环边界所在位置。

本发明作进一步改进，获取角度为的圆环灰度的计算方法为：

，width为圆环的宽度。

本发明作进一步改进，步骤S4中，极性标志的灰度小于其他部分灰度，利用统计的方法得出极性标志位置。

本发明作进一步改进，利用滑动窗口的方法统计窗口内的平均灰度，滑动窗口统计在角度时窗口大小为w，其中窗口的大小设置为极性标志所占的角度为30度，从而根据公式：

得出平均灰度最小的窗口位置作为极性标志的位置，其中，为窗口中心角度，s为当前遍历角度。

本发明还提供一种实现所述电解电容极性检测方法的检测系统，包括：