[发明专利]一种光纤弯曲损耗测试工装

说明书

本发明公开了一种光纤弯曲损耗测试工装，属于光纤检测技术领域，包括底板，底板上设置有用于容纳光纤且呈圆弧形的光纤槽；压紧结构，设置于底板上，包括压紧块，压紧块具有压紧位置和放松位置，当压紧块位于压紧位置时，压紧块抵压于光纤，当压紧块位于放松位置时，压紧块与光纤分离，压紧块和光纤槽其中一个侧壁之间形成供光纤进入或脱出光纤槽的开口。能够将光纤置于光纤槽内进行弯曲，使得每次测试时光纤的弯曲程度相同，并且能通过压紧块进行固定，保证测试结果的准确性。当压紧块位于放松位置时，光纤能通过开口进入或脱出光纤槽，能够实现对光纤进行多次弯曲，从而实现光纤在不同弯曲次数下的弯曲疲劳状态的弯曲损耗测试。

技术领域

本发明涉及光纤检测技术领域，尤其涉及一种光纤弯曲损耗测试工装。

背景技术

光纤弯曲会造成光纤的弯曲损耗，尤其是当光纤弯曲后曲率半径较大时，曲率半径与纤芯直径具有可比性时，光纤的传输特性会发生变化，大量的传导模被转化成辐射模，不再继续传输，而是进入包层被涂覆层或包层吸收，从而引起光纤的附加损耗。其中，光纤的宏弯损耗是光纤弯曲后的曲率半径比光纤直径大时引起的附加损耗。

因此，对光纤进行宏弯损耗测试是光纤制造过程中的一个重要环节，现在常用的光纤弯曲损耗测试方法是将光纤缠绕在柱状的测试轮轴上，通过对比光纤弯曲状态与未弯曲状态时光学特性的变化来检测光纤的宏弯损耗，但是人工操作的用力不均匀，导致每次测试时光纤的弯曲程度不同，影响测试结果的准确性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光纤弯曲损耗测试工装，以实现对光纤弯曲损耗的测试，提高测试结果的准确性。

如上构思，本发明所采用的技术方案是：

一种光纤弯曲损耗测试工装，包括:

底板，底板上设置有用于容纳光纤且呈圆弧形的光纤槽；

压紧结构，设置于所述底板上，所述压紧结构包括压紧块，所述压紧块具有压紧位置和放松位置，当所述压紧块位于所述压紧位置时，所述压紧块抵压于所述光纤，当所述压紧块位于放松位置时，所述压紧块与所述光纤分离，且所述压紧块和所述光纤槽的其中一个侧壁之间形成供所述光纤进入或脱出所述光纤槽的开口。

进一步地，所述光纤槽的另一个所述侧壁上设置有第一斜面，所述压紧块能够沿所述第一斜面滑动。

进一步地，所述压紧块一侧具有与所述第一斜面相配合的第二斜面，以及分别连接于所述第二斜面两侧的压紧面和抵接面，当所述压紧块位于所述压紧位置时，所述压紧面抵接于所述光纤，所述抵接面抵接于所述底板。

进一步地，所述压紧结构还包括锁紧件，所述压紧块上开设有沿所述光纤槽的径向延伸的条形孔，所述底板上开设有紧固孔，所述锁紧件穿设于所述条形孔并伸入所述紧固孔内以将所述压紧块锁定或放松。

进一步地，所述锁紧件为螺栓，所述紧固孔为能够与所述螺栓配合的螺纹孔。

进一步地，所述第一斜面上设置有限位结构，所述限位结构被配置为将所述压紧块限制于所述放松位置。

进一步地，所述压紧结构可拆卸地设置于所述底板上。

进一步地，所述压紧结构设置有多个，多个所述压紧结构沿所述光纤槽的延伸方向间隔设置于所述底板上。

进一步地，所述光纤槽设置有多个，多个所述光纤槽同圆心设置，每个所述光纤槽的半径不同。

进一步地，所述光纤槽沿其延伸方向的两端均设置有连通所述光纤槽的直线槽，所述直线槽与所述光纤槽的结构相同。

本发明的有益效果为：