[发明专利]一种微波多级变频组件相位测试系统有效

专利信息
申请号: 201911293689.0 申请日: 2019-12-12
公开(公告)号: CN111211847B 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 韦炜;桂盛;王勇;王洪林;白明强 申请(专利权)人: 扬州船用电子仪器研究所(中国船舶重工集团公司第七二三研究所)
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;G01R25/00
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 封睿
地址: 225001*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 微波 多级 变频 组件 相位 测试 系统
【说明书】:

发明公开了一种微波多级变频组件相位测试系统及方法,该系统包括矢量网络分析仪、主控计算机、无源变频链路、第一本振信号源、第二本振信号源、第三本振信号源、第一功分器、第二功分器、第三功分器、微波多级变频组件,测试时,利用矢量网络分析仪确定基准件与无源变频链路的矢量差值,以及待测件与基准件的矢量差值;根据待测件与无源变频链路的矢量差值及基准件与无源变频链路的矢量差值,确定待测件与基准件的矢量差值;结合基准件的矢量,确定待测件的矢量,完成微波多级变频组件相位测试。本发明基准件只需做一次校准就可以不再使用,只需要连接一个微波多级变频组件,连接复杂度和电源功耗比原来降低一半。

技术领域

本发明涉及微波测量技术,特别涉及一种微波多级变频组件相位测试系统。

背景技术

微波变频器是一种广泛应用于微波通讯、雷达、侦察监视、测试测量等系统中的关键组成部分,在微波接收系统中起到了至关重要的作用。随着相控阵体系的发展,对微波多级变频组件的相位指标提出了越来越高的要求。

微波多级变频组件的输入在微波射频高频段,输出在低频段,无法像同频的输入输出组件进行对比。普遍的变频组件测试方法是利用一个基准组件与待测件同时工作对比,要求基准组件和待测件加电、控制状态一致。然后对矢网进行频率变换设置,以比较接收信号。这样外部网络设置复杂,而且必须保持一个基准组件一直处于工作状态。此外,微波多级变频组件一般功耗都比较大,组件长时间发热,温度不稳定会对相位测试结果产生影响,而且基准件如果发生故障,那么整个批产产品的相位就失去控制。

发明内容

本发明的目的在于提供一种微波多级变频组件相位测试系统。

实现本发明目的的技术解决方案为:一种微波多级变频组件相位测试系统,包括矢量网络分析仪、主控计算机、无源变频链路、第一本振信号源、第二本振信号源、第三本振信号源、第一功分器、第二功分器、第三功分器、微波多级变频组件,所述矢量网络分析仪PORT1连接微波多级变频组件的射频输入端,矢量网络分析仪REF1 SOURCE OUT端口连接无源变频链路的射频输入端,矢量网络分析仪REF1 RCVRR1 IN端口连接无源变频链路的中频输出端;所述第一本振信号源经由第一功分器连接微波多级变频组件和无源变频链路的一级本振输入端;所述第二本振信号源经由第二功分器连接微波多级变频组件和无源变频链路的二级本振输入端;所述第三本振信号源经由第三功分器连接微波多级变频组件和无源变频链路的三级本振输入端。

一种微波多级变频组件相位测试方法,包括如下步骤:

利用矢量网络分析仪对微波多级变频组件基准件进行测试,得到基准件与无源变频链路的矢量差值;

利用矢量网络分析仪对微波多级变频组件基准件进行测试,得到待测件与无源变频链路的矢量差值;

根据待测件与无源变频链路的矢量差值及基准件与无源变频链路的矢量差值,确定待测件与基准件的矢量差值;

根据待测件与基准件的矢量差值,以及基准件的矢量,确定待测件的矢量,完成微波多级变频组件相位测试。

本发明与现有技术相比,其显著优点为:1)基准件只需做一次校准就可以不再使用,不需要一直处于工作状态;2)无源变频链路不需要外部加电工作于常温状态,可以避免温度飘移对相位测试结果的影响;3)只需要连接一个微波多级变频组件,连接复杂度和电源功耗比原来降低一半。

附图说明

图1为本发明微波多级变频组件相位测试系统的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例,进一步说明本发明方案。

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