[发明专利]LED灯失效检测电路及电气、温度失效检测方法

说明书

本发明公开了一种LED灯失效检测电路，该检测电路包括依次连接的LED灯、负反馈回路以及失效检测电路，所述负反馈回路还与单片机的输出端口VREF_TI_L连接；所述失效检测电路包括并联的第一二极管D1和第二二极管D2，所述第一二极管D1靠近LED灯设置，所述第二二极管D2设置在环境温度下；本发明还公开了一种LED灯电气失效检测方法和温度失效检测方法。本发明提供的失效检测电路不仅可以判断LED灯属于电气失效还是温度失效，并且可以根据失效的状态对LED灯进行保护；另外，本发明摒弃了传统的NTC采样电路，降低了检测过程中的硬件成本。

技术领域

本发明属于LED灯失效检测技术领域，具体涉及一种LED灯失效检测电路及电气、温度失效检测方法。

背景技术

LED灯，即发光二极管，是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，它可以直接把电转化为光，因此具有较为广泛的应用市场。

而LED灯随着使用时间或者周围环境的变化会导致失效，比如：由于电流超额导致PN结温度过高失效；由于工况环境温度超额导致PN结温度过高而致使LED电流出现正反馈最终失效。

现有关于LED灯电路失效检测一般采用NTC采样电路进行实时检测，其缺点是NTC硬件成本高、MCU检测端口过多、理论支持不清晰。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供一种LED灯失效检测电路，其摒弃了传统的NTC采样电路，通过二极管与负反馈回路之间的巧妙连接实现了对LED灯失效的检测。

本发明的另一目的是提供一种LED灯电气失效检测方法。

本发明的另一目的是提供一种LED灯温度失效检测方法。

本发明所采用的技术方案是：

一种LED灯失效检测电路，该检测电路包括依次连接的LED灯、负反馈回路以及失效检测电路，所述负反馈回路还与单片机的输出端口VREF_TI_L连接；

所述失效检测电路包括并联的第一二极管D1和第二二极管D2，所述第一二极管D1靠近LED灯设置，所述第二二极管D2设置在环境温度下。

优选地，所述环境温度为24-26℃。

优选地，当需要检测至少两个所述LED灯的失效情况时，所述负反馈回路的数量与LED灯的数量匹配。

优选地，所述失效检测电路还包括用于滤除尖峰电压的第一电容C1和第二电容C2，所述第一二极管D1和第一电容C1并联之后与负反馈回路连接，所述第二二极管D2和第二电容C2并联后一路与输出端连接，另一路通过第十一电阻R11接地。

优选地，所述负反馈回路包括第一三极管Q1，所述第一三极管Q1的集电极和LED灯连接，所述第一三极管Q1的发射极一路和失效检测电路连接，另一路和第二十五电阻R25和第二十六电阻R26的并联电路连接，所述第二十六电阻R26接地，所述第二十五电阻R25一路通过第二十六电容C26接地，另一路与第二十二电阻R22连接，所述第一三极管Q1的基极依次通过第二十七电阻R27接地、通过第二十七电容C27接地后通过第二十四电阻R24一路和第二十五电容C25连接，另一路和第一运算放大器U1的输出端连接，第一运算放大器U1的正输入端接单片机的输出端口VREF_TI_L，所述第一运算放大器U1的负输入端一路通过第二十一电阻R21接VCC，另一路和第二十二电阻R22连接连接，所述第二十五电容C25还与第二十三电阻R23连接。

一种LED灯电气失效检测方法，其应用上述的LED灯失效检测电路，该检测方法为：

S1，通过失效检测电路的输出电压判断LED灯的状态是否属于电气失效；

S2，当所述LED灯处于电气失效状态时，通过单片机实现对LED灯(1)的保护。