[发明专利]一种变焦光学系统光轴与视轴对准方法在审
申请号: | 201911298785.4 | 申请日: | 2019-12-17 |
公开(公告)号: | CN111045220A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 祝世民;王建成;张美生 | 申请(专利权)人: | 天津津航技术物理研究所 |
主分类号: | G02B27/62 | 分类号: | G02B27/62 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人: | 张然 |
地址: | 300308 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 变焦 光学系统 光轴 视轴 对准 方法 | ||
1.一种变焦光学系统光轴与视轴对准方法,其特征在于,包括:
构建装调测试系统;
对准装校时步骤如下:
(1)将光学镜头调节至最长焦距,调节探测器轴向位置使其视场范围内像质最佳并固定,选取靶标上两参考点,记录其像素坐标(m1,n1)和(m2,n2);
(2)将光学镜头调节至最短焦距,观测靶标成像清晰度并记录两参考点新像素坐标(m1',n1')和(m2',n2');
(3)在测试计算机绘图软件中标记两参考点的四个像素坐标,将(m1,n1)和(m1',n1')连接,(m2,n2)和(m2',n2')连接,延长两线段并确定两连线的相交位置像素坐标(m3,n3);
(4)将光学镜头再调节至最长焦距,转动精密二维转台,将靶标上一参考点的像点调节至交点像素位置(m3,n3),固定精密二维转台位置;
(5)调节探测器径向位置,使像素位置(m3,n3)处的参考像点移动至探测器中心像素位置(m0,n0),调节完成后固定探测器位置;
此时调节光学镜头焦距,参考像点始终在像素位置(m0,n0)处不改变,变焦光学系统光轴与视轴实现对准。
2.如权利要求1所述的变焦光学系统光轴与视轴对准方法,其特征在于,装调测试系统包括:光源、靶标、离轴抛物面镜、精密二维转台以及测试计算机。
3.如权利要求2所述的变焦光学系统光轴与视轴对准方法,其特征在于,光源提供与变焦光学系统谱段匹配的照明;靶标位于离轴抛物面镜焦平面,提供调焦和对准参考点;离轴抛物面口径需覆盖待装调变焦光学系统通光口径,用于提供平行光;测试计算机用于对输出图像进行数据读取与处理,光源出射光线依次经过靶标、离轴抛物面镜和二维转台上固定的变焦光学系统。
4.如权利要求1所述的变焦光学系统光轴与视轴对准方法,其特征在于,切换式两档中波红外变焦镜头参数为:长焦距280mm,短焦距54mm。
5.如权利要求1所述的变焦光学系统光轴与视轴对准方法,其特征在于,选用探测器规格为640pixel×512pixel,像元尺寸15μm。光源选用面源黑体。
6.如权利要求1所述的变焦光学系统光轴与视轴对准方法,其特征在于,靶标选用美军标靶USAF1951,离轴抛物面镜的焦距1.8m,口径Ф0.5mm。
7.如权利要求1所述的变焦光学系统光轴与视轴对准方法,其特征在于,将光学镜头固定在精密二维转台上,探测器与光学镜头通过装调结构连接,测试计算机与探测器通过线缆连接。
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