[发明专利]一种用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法有效

专利信息
申请号: 201911299272.5 申请日: 2019-12-17
公开(公告)号: CN111062889B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 张韶辉;郝群;王影;胡摇 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T3/40;G02B21/36
代理公司: 北京市中闻律师事务所 11388 代理人: 冯梦洪
地址: 100081 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 傅里叶叠层 显微 成像 技术 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法,其特征在于:其包括以下步骤:

(1)采集原始图像,构成图像数据集;

(2)设定一个图像强度倍数变化区间[A,B],将采集的原始图像对应的强度校正系数初始值为1,在此基础上变换强度校正系数数值,调整图像的强度;调整的方法为将初始图像强度校正系数值按照区间[A,B]内的值根据一定步长t依次变化,每次测量图像都乘以不同的强度校正系数,每次变化后都计算一次评价函数;经过若干次迭代寻找最佳评价函数与最佳亮度倍数的过程,找到最合适的亮度倍数值;

(3)对每张低分辨率图像都按照最合适的亮度倍数值调整,就完成了图像的亮度校正;

(4)经过校正后的图像进行高分辨率重构,得到重构图像。

2.根据权利要求1所述的用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法,其特征在于:所述步骤(2)中评价函数为目标复振幅图像与测量图像强度值差值的平方,其计算方法如下:先利用传统GS重构方法进行一次重构,得到一张高分辨率图像作为初始估计值,对其进行傅里叶变换,得到初始估计频谱,在初始估计频谱上寻找一块子区域频谱图,对其进行傅里叶逆变换,得到一张目标复振幅图像I1,将其强度值记为Er1,其对应的测量图像记为I2,将其强度值记为Er2,初始评价函数值记为Er=(Er1-Er2)2,并将Er记为最优评价函数Erbest;当图像经过亮度校正系数调整之后,得到新的测量图像I2new,将强度值记为Er2new,利用新的测量图像更新目标复振幅图像,得到新的目标复振幅图像I1new,将其强度值记为Er1new,计算新的评价函数值Ernew=(Er1new-Er2new)2,当Ernew<Erbest时,将Ernew记为Erbest,其对应的强度校正系数为最优校正系数,当Ernew>Erbest时,Erbest不变。

3.根据权利要求2所述的用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法,其特征在于:所述步骤(2)中经过多次迭代寻找最佳评价函数与最佳亮度倍数的过程,找到每张图像最合适的亮度倍数值。

4.根据权利要求3所述的用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法,其特征在于:所述步骤(4)中,图像重构,对采集的多张低分辨率图像进行FPM算法重构。

5.根据权利要求4所述的用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法,其特征在于:所述步骤(4)中,图像重构通过相位恢复算法中的GS相位恢复算法进行超分辨率重构。

6.根据权利要求5所述的用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法,其特征在于:所述步骤(4)以GS相位恢复算法进行超分辨率重构,包括以下分步骤:

(4.1)将LED阵列上中心LED灯拍摄的图像进行插值处理,作为空域初始估计值;

(4.2)将插值后的图像进行傅立叶变换得到频域初始估计值;

(4.3)在得到的频谱图中选取一块子区域进行傅里叶逆变换,得到目标复振幅图像,目标复振幅图像包含振幅信息和相位信息;

(4.4)保持目标复振幅图像相位信息不变,用LED阵列上对应位置LED灯拍摄的实际图像替换其振幅信息,得到更新后的目标复振幅图像;

(4.5)将更新后的目标复振幅图像进行傅里叶变换,得到更新后的频谱图,用更新后的频谱图替换初始频谱图的对应子频谱区域;

(4.6)重复步骤(4.3)-(4.5),完成所有子频谱更新;

(4.7)重复步骤(4.3)-(4.6)使结果收敛,得到图像高频信息增强的高分辨率频谱图像,再进行傅里叶逆变换,得到空域中的高分辨率图像。

7.根据权利要求6所述的用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法,其特征在于:还包括步骤(5),结果检验,对比原始低分辨倍率图像、未经光照不均匀误差校正的重构图像、经过光照不均匀误差校正的重构图像后发现,光照不均匀误差会造成重构图像质量变差,进过校正之后,分辨率有所提高,同时图像背景更均匀。

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