[发明专利]一种α、β表面污染仪便携式检定装置在审
申请号: | 201911300705.4 | 申请日: | 2019-12-17 |
公开(公告)号: | CN110941008A | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
发明(设计)人: | 姚艳玲;张路明;姚顺和;朱保吉 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102413 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 表面 污染 便携式 检定 装置 | ||
本发明涉及一种α、β表面污染仪便携式检定装置,包括固定架底座和探头固定架;所述固定架底座上设置有平面源槽和边沿上固定立柱;所述探头固定架上设置有与所述平面源槽配合的测量窗口;所述探头固定架通过通孔套装于所述固定底座边沿上的固定立柱上,以使所述表面污染仪探头探测窗与所述平面源表面的距离符合预设值。本发明的检定装置操作简单、精密度高,可以校准/检定不同类型的探头的α、β表面污染仪,便于外出检定携带。
技术领域
本发明属于核工业领域,具体涉及一种α、β表面污染仪便携式检定装置。
背景技术
α、β表面污染仪是使用最广泛的核监测仪器之一,表面污染仪的校准/检定是其使用的必要条件。表面污染仪的校准/检定依据检定规程或相关标准开展,国内主要为JJG2041-89《测量α、β表面污染的计量器具检定系统》和JJG478—2016《α、β表面污染仪检定规程》,国际上主要参考ISO 8769《Reference sources—Calibration of surfacecontamination monitors—Alpha-,beta-and photon emitters》或IEC 60325《radiationprotection instrumentation–alpha,beta an alpha/beta(beta energy>60keV)contamination meters and monitors》。但是这些规程或标准仅仅给出了校准/检定的方法以及一些必要标准源,并没有给出具体的校准/检定装置。如JJG 478—2016《α、β表面污染仪检定规程》除平面源外,仅给出了定位支架的定位偏差,而对于支架没有更多可供参考的信息。如果要对表面污染仪进行检定,需要根据放射源的不同调节表面污染仪与标准放射源之间的距离,十分不方便。
有鉴于此,特提出本发明。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷,本发明的目的是提供一种α、β表面污染仪便携式检定装置,准确定位表面污染仪探头探测窗与平面源表面的距离,并且能够固定各种类型的表面污染仪探头,保障探头探测窗和平面源表面之间距离精准,α平面源距离为5mm、β平面源距离为10mm。以确保刻度值准确稳定可靠。设置六个窗口便于提高效率,可以同时开展六台α、β表面污染仪的校准和检定工作。同时装置整体小巧,可以随意拆装组装,便于外检携带。
本发明的技术方案如下:
一种α、β表面污染仪便携式检定装置,包括固定架底座和探头固定架;所述固定架底座上设置有平面源槽;所述探头固定架上设置有与所述平面源槽配合的测量窗口;所述探头固定架安装于所述平面源槽的边沿,窗以使所述表面污染仪探头探测窗与所述平面源表面的距离符合预设值。
进一步地,上述的α、β表面污染仪便携式检定装置,所述探头固定架上设有通孔,所述平面源槽的边沿上的相应位置设有固定立柱;所述探头固定架通过通孔套装于所述固定立柱上,以使所述表面污染仪探头探测窗与所述平面源表面的距离符合预设值。
进一步地,上述的α、β表面污染仪便携式检定装置,所述探头固定架和所述平面源槽上的边沿相应的位置均设置有缺口。
进一步地,上述的α、β表面污染仪便携式检定装置,每个固定架底座上设置多个平面源槽。
进一步地,上述的α、β表面污染仪便携式检定装置,所述探头固定架的数量与所述平面源槽数量相对应。
进一步地,上述的α、β表面污染仪便携式检定装置,所述测量窗口上设置有与表面污染仪探头形状配合的带有凸沿的探头托座。
进一步地,上述的α、β表面污染仪便携式检定装置,所述测量窗口为圆形窗口、长方形窗口或正方形窗口。
本发明的有益效果如下:
本发明的检定装置操作简单、精密度高,可以校准/检定不同类型的探头的α、β表面污染仪,便于外出检定携带。
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