[发明专利]一种碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法

说明书

本发明公开了一种碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法，所述方法包括步骤：步骤S1.待测样品的预处理，取待测样品，先过滤，然后加入四氯化碳，萃取，留水相；步骤S2.用电子天平准确称量洁净的带盖的坩埚的重量，记为M0；步骤S3.用移液管移取5～10mL的预处理后的待测样品于坩埚中，记下样品体积为V；步骤S4.将坩埚加盖并放入加热设备中进行加热，升温至600～1000℃，保温10～40min；步骤S5.焙烧结束后，降至室温，取出坩埚，恒重，然后用电子天平对坩埚进行称重，记为M1；步骤S6.根据M0、M1、V，计算硼酸的浓度。本发明提供的碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法，具有操作简单，易于实现，且碘干扰少，无需依赖大型仪器，成本低的特点，便于推广。

技术领域

本发明涉及硼酸浓度检测技术领域，特别涉及一种碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法。

背景技术

偏光片是LCD显示器件中一个十分重要的光学组成元件，在LCD显示器件内起到光学开关的作用，决定着光路的通过与闭合。在偏光片的生产制作过程中，偏光膜的加工处理工序是整个生产过程中最重要的一个工序，也是难度系数最大的一个工序。在碘系偏光膜的染色处理工序中，需要使用碘作为染色液，同时加入硼酸作为交联剂与偏光膜进行交联化反应，反应过程中，碘分子扩散掺入到偏光膜中，通过范德华力与偏光膜结合在一起，起到加强偏光膜尺寸稳定性的作用，同时，碘分子与硼酸的氢键结合，有助于碘分子固定在偏光膜中，起到固色作用，同时提高偏光膜的耐候性，因此，硼酸在一定程度上决定着偏光片产品的品质优劣，因此如何有效监测碘系偏光膜加工处理工序槽液中硼酸的含量对制作高品质的偏光片产品有着十分重要的意义。

目前，对于硼酸含量的测试方法有仪器分析法和化学分析法，仪器分析法包括分光光度法、电位滴定法、电感耦合等离子体发射光谱法，这些方法通常都需要做检测前衍生处理，并且存在分析干扰因素多、操作繁琐、检测设备投入费用高等缺陷，而化学分析法有中和滴定法，虽然成本相对便宜，但是存在滴定终点判断时，人为干扰比较大，不同的分析操作人员对指示剂终点的判断存在偏差，导致同一组样品，不同的分析人员得到的分析结果偏差较大的缺陷。可见，现有技术还有待改进和提高。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种碘系偏光膜染色工序中硼酸含量的测试测定方法，旨在解决现有技术中没有一种针对带碘染色液的硼酸含量的测试方法，现有硼酸含量测定操作复杂、不够精准的缺陷。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法，其中，所述方法包括步骤：

步骤S1.待测样品的预处理，取待测样品，先过滤，然后加入四氯化碳，萃取，保留水相；

步骤S2.用电子天平准确称量洁净的带盖的坩埚的重量，记为M0；

步骤S3.用移液管移取5～10mL的预处理后的待测样品于坩埚中，记下样品体积为V；

步骤S4.将坩埚加盖并放入加热设备中进行加热，升温至600～1000℃，保温10～20min；

步骤S5.焙烧结束后，降至室温，取出坩埚，恒重，然后用电子天平对坩埚进行称重，记为M1；

步骤S6.根据M0、M1、V，计算硼酸的浓度。

所述碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法中，所述步骤S1中，所述四氯化碳加入的量与待测溶液的体积比为1～3∶1。

所述碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法中，所述步骤S1中，四氯化碳的萃取次数为1～3次。

所述碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法中，所述步骤S4中，升温速度为50～80℃/min。

所述碘系偏光膜加工槽液中硼酸浓度的测定方法中，所述步骤S4中，当温度升至180℃时，保温3～5min。