[发明专利]一种PHY参数调试方法、装置、存储介质及电子设备有效

专利信息
申请号: 201911307639.3 申请日: 2019-12-18
公开(公告)号: CN111045970B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 刘海亮 申请(专利权)人: 江苏芯盛智能科技有限公司
主分类号: G06F13/38 分类号: G06F13/38;G06F13/42
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张欣欣
地址: 213000 江苏省常州市武进区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 phy 参数 调试 方法 装置 存储 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种PHY参数调试方法,应用于处理器,所述处理器与PCIe PHY电连接,PCIe PHY包括只读存储器和静态随机存储器,其特征在于,所述方法包括:

当获得初始化加载完毕指示信号时,修改所述静态随机存储器中的数据,其中,所述初始化加载完毕指示信号表征从所述只读存储器向所述静态随机存储器加载代码完成;

当所述静态随机存储器中的数据修改完成时,向PCIe PHY发送第一触发指令,以使PCIe PHY从所述静态随机存储器中读取数据,用于执行PCIe PHY中每一个通道的校准和自适应算法;

在获得初始化加载完毕指示信号之前,所述方法还包括:

在PCIe PHY上电完成后,等待预设定的时间,向PCIe PHY发送第二触发指令,以使所述只读存储器向所述静态随机存储器加载代码。

2.如权利要求1所述的PHY参数调试方法,其特征在于,所述修改所述静态随机存储器中的数据的步骤,包括:

通过选择器确定修改接口;

通过所述修改接口修改所述静态随机存储器中的数据。

3.如权利要求2所述的PHY参数调试方法,其特征在于,所述修改接口为片上系统寄存器接口、联合测试工作组寄存器接口或者PCIe PHY寄存器接口。

4.一种PHY参数调试装置,应用于处理器,所述处理器与PCIe PHY电连接,PCIe PHY包括只读存储器和静态随机存储器,其特征在于,所述装置包括:

处理单元,用于当获得初始化加载完毕指示信号时,修改所述静态随机存储器中的数据,其中,所述初始化加载完毕指示信号表征从所述只读存储器向所述静态随机存储器加载代码完成;

信息收发单元,用于当所述静态随机存储器中的数据修改完成时,向PCIe PHY发送第一触发指令,以使PCIe PHY从所述静态随机存储器中读取数据,用于执行PCIe PHY中每一个通道的校准和自适应算法;

所述信息收发单元还用于在PCIe PHY上电完成后,等待预设定的时间,向PCIe PHY发送第二触发指令,以使所述只读存储器向所述静态随机存储器加载代码。

5.如权利要求4所述的PHY参数调试装置,其特征在于,所述处理单元具体用于通过选择器确定修改接口;通过所述修改接口修改所述静态随机存储器中的数据。

6.如权利要求5所述的PHY参数调试装置,其特征在于,所述修改接口为片上系统寄存器接口、联合测试工作组寄存器接口或者PCIePHY寄存器接口。

7.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一项所述的方法。

8.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器和存储器,所述存储器用于存储一个或多个程序;当所述一个或多个程序被所述处理器执行时,实现如权利要求1-3中任一项所述的方法。

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