[发明专利]一种单模块脱扣半轴测试装置

权利要求书

1.一种单模块脱扣半轴测试装置，其特征在于，包括基座和测试组件，

所述测试组件包括测试块、限位板一、限位板二和限位板三，所述测试块活动连接在基座上，所述测试块呈长方体，所述测试块的中心设有放置脱扣半轴的容置孔，所述测试块的一端设有定位孔一和一对平行的定位圆孔一，另一端设有定位圆孔二以及错开的定位孔二和定位孔三，所述定位孔一、定位孔二和定位孔三分别和容置孔连通；

所述定位圆孔一贯穿定位孔一和容置孔，所述定位圆孔二贯穿定位孔二；

所述脱扣半轴包括轴体，所述轴体的一端外侧设有定位槽一，所述定位槽一的底部设有一对连接孔一，

轴体的另一端外侧设有错开设置的定位槽二和定位槽三，所述定位槽二的底部设有一连接孔二；

所述限位板一用于放置在定位孔一和定位槽一内，所述限位板二用于放置在定位孔二和定位槽二内，所述限位板三用于放置在定位孔三内；

所述定位圆孔一和连接孔一一一对应、用于放置定位柱一，

所述定位圆孔二和连接孔二相对应、用于放置定位柱二。

2.根据权利要求1所述的一种单模块脱扣半轴测试装置，其特征在于，所述基座上设有一对滑杆，所述测试块上设有一对滑孔，所述滑杆一一对应设在滑孔内，所述容置孔位于一对滑孔中间。

3.根据权利要求1或2所述的一种单模块脱扣半轴测试装置，其特征在于，所述定位孔一内的限位板一垂直于定位孔二内的限位板二。

4.根据权利要求1所述的一种单模块脱扣半轴测试装置，其特征在于，所述基座上设有穿孔，所述穿孔内可拆卸设有压盖，

所述穿孔的孔径大于脱扣半轴的轴径，所述穿孔的中心线与脱扣半轴的轴线位于同一直线。

5.根据权利要求1所述的一种单模块脱扣半轴测试装置，其特征在于，所述限位板一的长度＞限位板三的长度＞限位板二的长度。