[发明专利]一种基于FPGA平台的芯片全功能自测系统及其方法

权利要求书

1.一种基于FPGA平台的芯片全功能自测系统，其特征在于，包括：

传送带，用于将被测芯片依次传送至图像传感器下方；

所述图像传感器，用于将采集到的所述被测芯片的丝印图像传送至FPGA测试台；

所述FPGA测试台，用于通过LeNet读取丝印信息，调取与所述丝印信息对应的所述被测芯片的全功能测试可执行程序，找到与所述测试可执行程序对应的FPGA内部的关于测试管脚连接方式的配置信息，完成管脚连接匹配及芯片加载测试，还用于根据全功能测试结果控制云台双路步进电机对测试后的所述被测芯片进行分类；所述FPGA测试台包括LeNet-5文字识别神经网络模块和由verilog语言编写的自定义硬件控制IP模块；所述LeNet-5文字识别神经网络模块是由基于OpenCL框架的TF2平台生成；所述TF2平台与所述自定义硬件控制IP模块的连接方式为所述自定义硬件控制IP模块将RTL编译成库文件后，由所述TF2平台中函数调用所述库文件；

所述自定义硬件控制IP模块包括：被测芯片烧写器模块，用于根据所述LeNet-5文字识别神经网络模块读取的所述图像传感器传入的丝印图像的丝印信息，调取与所述丝印信息对应的所述被测芯片的全功能测试可执行程序，并将调取的所述测试可执行程序烧写到所述被测芯片中；被测芯片管脚连接控制模块，用于读取OpenCLhost端发送的所述测试可执行程序，找到与所述测试可执行程序对应的FPGA内部的关于测试管脚连接方式的配置信息并将所述配置信息配置到寄存器中，通过verilog语句将待连接的各测试管脚之间的输入输出信号传送至对应的所述测试管脚，根据测试条目进行全功能测试。

2.根据权利要求1所述的芯片全功能自测系统，其特征在于，所述自定义硬件控制IP模块还包括：

电机控制器模块，用于根据全功能测试结果，控制云台双路步进电机转动，分别将通过所有测试条目的芯片和未通过所有测试条目的芯片，放入对应的不同箱子中。

3.根据权利要求2所述的芯片全功能自测系统，其特征在于，所述电机控制器模块，具体用于根据全功能测试结果，判断所有测试条目是否全部通过；若是，则将所述被测芯片直接由所述云台双路步进电机以指定的第一电机控制角度倾倒至第一箱子中；若否，则将所述被测芯片由所述云台双路步进电机以指定的第二电机控制角度倾倒至第二箱子中，并对通过率进行统计。

4.根据权利要求3所述的芯片全功能自测系统，其特征在于，所述云台双路步进电机位于所述FPGA测试台的底部。

5.根据权利要求4所述的芯片全功能自测系统，其特征在于，所述第一箱子设置在所述云台双路步进电机远离所述传送带的一侧；

所述第二箱子设置在所述云台双路步进电机沿着垂直于所述传送带延伸方向的任意一侧。

6.一种如权利要求1至5任一项所述芯片全功能自测系统的自测方法，其特征在于，包括：

被测芯片由传送带依次传送到图像传感器下方；

所述图像传感器将采集到的所述被测芯片的丝印图像传送至FPGA测试台；所述FPGA测试台包括LeNet-5文字识别神经网络模块和由verilog语言编写的自定义硬件控制IP模块；所述LeNet-5文字识别神经网络模块是由基于OpenCL框架的TF2平台生成；所述TF2平台与所述自定义硬件控制IP模块的连接方式为所述自定义硬件控制IP模块将RTL编译成库文件后，由所述TF2平台中函数调用所述库文件；

通过所述自定义硬件控制IP模块的被测芯片烧写器模块根据所述LeNet-5文字识别神经网络模块读取的所述图像传感器传入的丝印图像的丝印信息，调取与所述丝印信息对应的所述被测芯片的全功能测试可执行程序，并将调取的所述测试可执行程序烧写到所述被测芯片中；

通过所述自定义硬件控制IP模块的被测芯片管脚连接控制模块读取OpenCLhost端发送的所述测试可执行程序，找到与所述测试可执行程序对应的FPGA内部的关于测试管脚连接方式的配置信息并将所述配置信息配置到寄存器中，通过verilog语句将待连接的各测试管脚之间的输入输出信号传送至对应的所述测试管脚，根据测试条目进行全功能测试；

根据全功能测试结果控制云台双路步进电机对测试后的所述被测芯片进行分类。

7.根据权利要求6所述的芯片全功能自测系统的自测方法，其特征在于，根据全功能测试结果控制云台双路步进电机对测试后的所述被测芯片进行分类，具体包括：

通过电机控制器模块根据全功能测试结果判断所有测试条目是否全部通过；若是，则将所述被测芯片直接由所述云台双路步进电机以指定的第一电机控制角度倾倒至第一箱子中；若否，则将所述被测芯片由所述云台双路步进电机以指定的第二电机控制角度倾倒至第二箱子中，并对通过率进行统计。