[发明专利]劳厄衍射图谱的标定方法

说明书

本发明公开了一种劳厄衍射图谱的标定方法，方法包括以下步骤：求解样品在白光X射线光源能量范围内所有的劳厄衍射峰的米勒指数，在劳厄衍射图谱中获得衍射峰及其位置并将获得的衍射峰标记为实验衍射峰，基于探测器坐标系计算所述实验衍射峰的衍射矢量，计算所述实验衍射峰数量大于预定参数n_p的晶带轴Z_i′方向；标定晶带轴Z_i′得到晶带轴的米勒指数并计算取向变换矩阵T；对比标定的所述实验衍射峰，通过衍射峰之间的角度差检测被标定的所述实验衍射峰的标定结果的正确性，若标定正确的实验衍射峰的数目大于等于预定参数n₁，则完成标定过程。

技术领域

本发明属于X射线衍射技术领域，特别是一种劳厄衍射图谱的标定方法。

背景技术

使用白光X射线光源的劳厄衍射是一种较为常见的晶体材料表征方法，通过对所得劳厄图谱的标定和分析，可以获得包括晶体组成相、取向和应力应变等多种信息。且由于劳厄衍射自身的特征，其在实验时无需改变样品、X射线光源和X射线探测器的几何关系，从而实现了对样品的快速表征。同时借助于实验室白光X射线光源和基于同步辐射装置的白光X射线光源的发展，劳厄衍射被越来越广泛地用在晶体材料的研究与表征中。

然而，由于使用白光X射线，劳厄衍射图谱的标定明显复杂于其他X射线衍射数据的标定。现有的标定方法，往往通过直接对比所采集衍射图谱上衍射峰的相对位置与理论上各衍射峰位置来实现对衍射图谱的标定。而由于理论衍射峰的数量极大，所需进行的对比次数极多。对于如较为复杂的矿物样品等有较大晶胞尺寸的样品，由于所采集到的衍射峰的数目也很多，整个标定过程的计算量更大。在普通个人计算机上标定这种衍射图谱往往需要数分钟甚至十几分钟时间。随着实验装置的发展，耗时标定过程逐渐成为限制该项技术发展的因素之一。对更简便、有效的劳厄衍射图谱标定方法的需求也逐渐迫切。

在背景技术部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本发明背景的理解，因此可能包含不构成在本国中本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明提出一种劳厄衍射图谱的标定方法。

本发明的目的是通过以下技术方案予以实现，一种劳厄衍射图谱的标定方法包括以下步骤：

第一步骤中，求解样品在白光X射线光源能量范围内所有的劳厄衍射峰的米勒指数[h_j k_j l_j]，其中j＝1，2，3…m，其中m表示所有出现的劳厄衍射峰的数目；

第二步骤中，在劳厄衍射图谱中获得衍射峰及其位置并将获得的衍射峰标记为实验衍射峰，基于探测器坐标系计算所述实验衍射峰的衍射矢量并以单位矢量表示，其中i＝1，2，3…n，n表示所述实验衍射峰的总数；

第三步骤中，计算所述实验衍射峰数量大于预定参数n_p的晶带轴Z_i′方向，用单位矢量表示其中i′＝1，2，3…n′，n′表示晶带轴的数目；

第四步骤中，标定晶带轴Z_i′得到晶带轴的米勒指数[u_i′ v_i′ w_i′]，其中i′＝1，2，3…n′，n′表示晶带轴的数目，标定过程中跳过已被标定过的结果，如果所有标定结果都被跳过或没有得到任何标定结果，则直接判定为标定失败，无需进行以下步骤；

第五步骤中，计算取向变换矩阵T；

第六步骤中，对比标定的所述实验衍射峰，如果被标定的所述实验衍射峰的数量小于预定参数n₁，则返回第四步骤(S4)；