[发明专利]基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法

权利要求书

1.一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，其特征在于，所述多点触摸与遥控共用检测控制系统包括：

触摸IC，设置有数据传输引脚SDA、时钟信号引脚SCL、工作表现引脚INT和若干个按键输入端；

触摸按键，设置有若干个，通过输入电阻连接所述按键输入端；

MCU芯片，设置有第一引脚、第二引脚和第三引脚，所述数据传输引脚SDA通过第一电阻连接所述第一引脚，所述时钟信号引脚SCL通过第二电阻连接所述第二引脚，所述工作表现引脚INT通过第三电阻连接所述第三引脚；任一所述触摸按键被触摸时，所述工作表现引脚INT表现为低电平，所有所述触摸按键未被触摸时，所述工作表现引脚INT表现为高电平；每次所述触摸按键被触摸的响应时间大于100ms；

遥控接收IC，设置有遥控信号输出引脚IR，所述遥控信号输出引脚IR连接所述第三引脚；所述遥控接收IC没有接收到信号时，所述遥控信号输出引脚IR表现为高电平，所述遥控接收IC接收到信号时，所述遥控信号输出引脚IR表现为低电平，且发送总长不超过20ms的带有通信协议的码段信号给所述第三引脚；

所述检测控制方法包括以下步骤：

所述MCU芯片对所述第三引脚进行微秒级检测，若检测到所述第三引脚为低电平，开始计时；

若所述第三引脚在微秒级别内变化为高电平，则判断为接收所述遥控接收IC发送的码段信号；

继续接收所述码段信号，并对接收到的所述码段信号进行解码处理；

若所述第三引脚的低电平持续时间超过100ms，则判断为所述触摸按键被触摸；

所述MCU芯片通过所述第二引脚输出一个高低变化的时钟信号给所述触摸IC，同时通过所述第一引脚输出一个地址码给所述触摸IC；

所述触摸IC写入所述地址码后，通过所述数据传输引脚SDA回送一个包含所述按键输入端的状态的状态码给所述MCU芯片；

所述MCU芯片根据所述状态码判断出被触摸的触摸按键。

2.根据权利要求1所述的一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，其特征在于，若所述第三引脚的低电平持续时间超过20ms，则将接受到的码段信号清零，继续接收低电平信号。

3.根据权利要求1所述的一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，其特征在于，若在接收码段信号的过程中，所述触摸按键被触摸，所述码段信号会被屏蔽，优先响应按键触摸。

4.根据权利要求1所述的一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，其特征在于，所述触摸IC写入所述地址码，包括：

所述触摸IC在所述时钟信号引脚SCL的下降沿读取所述数据传输引脚SDA的电平，连续写入八位后，得到所述地址码。

5.根据权利要求1所述的一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，其特征在于，所述状态码包括与所述按键输入端数量一致的数据码，所述数据码在对应的所述触摸按键被触摸时为低电平，在对应的所述触摸按键没有被触摸时为高电平。

6.根据权利要求1所述的一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，其特征在于，所述MCU芯片通过所述第一引脚输出地址码时，所述第一引脚为输出脚，所述数据传输引脚SDA为输入检测脚；所述MCU芯片发送完所述地址码后，所述第一引脚从输出脚改成输入检测脚，所述数据传输引脚SDA从输入检测脚改成输出脚。