[发明专利]一种寄生参数结果正确性的判断方法

说明书

一种寄生参数结果正确性的判断方法，包括以下步骤：1）指定测试的测例库，运行目录以及报告生成目录；2）设置寄生参数的提取方式以及阈值；3）按照设置的提取模式对版图数据进行提取操作；4）将提取的所有测例的寄生参数写入测试表格中；5）进行寄生参数结果正确性的判断，生成总结报告。本发明的寄生参数结果正确性的判断方法，支持复杂数据类型的计算，支持海量数据的自动分析，大大提高设计的正确性和效率。

技术领域

本发明涉及EDA技术领域，特别是涉及一种寄生参数结果正确性的判断方法。

背景技术

版图中寄生参数是集成电路设计和液晶面板设计中最为重要、最为关键的步骤，直接决定着整个集成电路设计过程的成败。在集成电路版图设计和液晶面板设计过程中，需要不断的对各个功能模块进行寄生参数提取并进行结果判断，提取的正确性以及精度直接决定着芯片或面板流片能否成功，因此需要对海量的寄生参数进行正确性及精度方面进行判断，而手工进行判断不仅浪费大量的时间，而且正确性也无法保证，一旦出现错误，将对芯片或面板的性能影响很大，甚至导致功能失效。

发明内容

为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种寄生参数结果正确性的判断方法，支持复杂数据类型的计算，支持海量数据的自动分析，大大提高设计的正确性和效率。

为实现上述目的，本发明提供的一种寄生参数结果正确性的判断方法，包括以下步骤：

1）指定测试的测例库，运行目录以及报告生成目录；

2）设置寄生参数的提取方式以及阈值；

3）按照设置的提取模式对版图数据进行提取操作；

4）将提取的所有测例的寄生参数写入测试表格中；

5）进行寄生参数结果正确性的判断，生成总结报告。

进一步地，所述步骤1）还包括，设置所述寄生参数提取的时间阈值和并行运行的所述测例数量。

进一步地，当提取时间超过所述时间阈值后，停止相应测例的参数提取。

进一步地，所述步骤3）进一步包括：

根据所述设置将所述测例库中的数据解压到所述运行目录；

所述测例包括执行码，根据所述执行码调用所述寄生参数的提取模式。

进一步地，所述步骤4）进一步包括，写入时，判断所述报告目录下是否存在对应的所述测试表格，若不存在，生成测试表格并写入，若存在，对所述测试表格中数据进行覆盖写入。

进一步地，所述步骤5）进一步包括：

将所述测试表格数据和标准数据并排依次写入生成对比表格数据；

对所述测试数据和所述标准数据进行减法操作，并与设置的所述阈值相比较。

进一步地，还包括，当超过所述阈值时，标记所述数据为失败。

进一步地，所述总结报告包括失败数据信息和通过数据信息。

为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行如上文所述的寄生参数结果正确性的判断方法步骤。

为实现上述目的，本发明还提供一种寄生参数结果正确性的判断装置，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行如上文所述的寄生参数结果正确性的判断方法步骤。

本发明的一种寄生参数结果正确性的判断方法，具有以下有益效果：

1）支持复杂数据类型的计算，支持海量数据的自动分析，大大提高设计的正确性和效率。